Giới thiệu những cải tiến và khả năng mới của LVEM 25E

STEM Dark Field (DF) và HAADF hiện đã được tích hợp vào chức năng STEM
Độ phân giải SEM đã được cải thiện từ 4 nm xuống 2 nm.
EDS cũng đã được cải thiện nhờ tỷ lệ tín hiệu trên nhiễu tốt hơn, mang lại dữ liệu nguyên tố rõ nét hơn.
Những cải tiến này sẽ được áp dụng trên tất cả các thiết bị chưa rời nhà máy.

Chúng tôi đã phát hành brochure LVEM 25E được cập nhật, đính kèm tại đây. Vui lòng xem xét và cập nhật website cũng như các tài liệu khác của quý vị theo danh sách thay đổi dưới đây. Thông tin kỹ thuật chi tiết hơn về các khả năng Dark Field và HAADF mới sẽ sớm được cung cấp trong một tài liệu giới thiệu riêng.

Các thay đổi về thông số kỹ thuật cần áp dụng

Các giá trị được liệt kê dưới đây đã thay đổi trong brochure mới. Vui lòng cập nhật mọi nơi trên website và các tài liệu khác của quý vị có xuất hiện những thông số này.

Chế độ	Thông số kỹ thuật	Giá trị mới
TEM	Độ phóng đại tổng	Màn hình: 3.800 – 3.000.000×Cảm biến: 160 – 64.000×
TEM	Độ phóng đại, chế độ độ phóng đại thấp	Màn hình: 1.300× (tại binning 2×2)Cảm biến: 54×
STEM 10	Độ phân giải	1,0 nm
STEM 10	Độ phóng đại	1.150 – 3.600.000×
STEM 10	Trường quan sát tối đa	81 µm
STEM 15	Độ phân giải	1,0 nm
STEM 15	Độ phóng đại	1.300 – 4.600.000×
STEM 15	Trường quan sát tối đa	56 µm
SEM 15	Độ phân giải	2 nm
SEM 15	Độ phóng đại	1.300 – 4.600.000×
SEM 15	Trường quan sát tối đa	105 µm

Độ phân giải hiện được tiêu chuẩn hóa trên các chế độ truyền qua và các mức năng lượng: TEM và STEM ở mức 1,0 nm. Độ phân giải SEM được cải thiện xuống 2 nm. Các thông số độ phóng đại TEM phản ánh cách tính toán được điều chỉnh và hiện được tách thành độ phóng đại hiển thị và độ phóng đại cảm biến. Các con số này có thể khác so với brochure cũ ngay cả khi hiệu năng của thiết bị không thay đổi. Vui lòng sử dụng brochure mới làm tài liệu tham chiếu duy nhất cho tất cả các giá trị được trích dẫn.

Thời gian và thông báo

STEM DF và HAADF sẽ được ra mắt công khai tại IMC trong 2 tuần tới. Những cải tiến còn lại sẽ được công bố công khai vào cuối tháng 9.

Hội nghị Kính hiển vi Quốc tế lần thứ 21 (IMC21) sẽ diễn ra từ ngày 31 tháng 8 đến ngày 4 tháng 9 năm 2026 tại ACC Liverpool, Vương quốc Anh, quy tụ các chuyên gia kính hiển vi từ khắp nơi trên thế giới. Đây là sự kiện được tổ chức 4 năm một lần và được ví như Thế vận hội của ngành kính hiển vi. Delong Instruments sẽ trưng bày sản phẩm tại Gian hàng 119 và chúng tôi rất mong quý vị đưa các khách hàng tiềm năng của mình đến tham quan.

Để đặt lịch demo riêng cho khách hàng của quý vị, vui lòng đăng ký tại đây: Chúng tôi sẽ vận hành trực tiếp cả hai hệ thống tại gian hàng: https://delongamerica.com/book-a-demo

Đây cũng là cơ hội tuyệt vời để gặp trực tiếp đội ngũ Delong và được đào tạo thực hành về sản phẩm trong thời gian quý vị có mặt tại đây. Vui lòng phản hồi để xác nhận liệu quý vị có tham dự hay không để chúng tôi có thể sắp xếp thời gian làm việc với quý vị tại gian hàng.