Viện CIC nanoGUNE (Tây Ban Nha) gần đây đã đầu tư một hệ thống TESCAN AMBER X Cryo Plasma FIB-SEM – cấu hình tiên tiến kết hợp giữa Plasma FIB-SEM và hệ thống CRYO, phục vụ nghiên cứu vật liệu ở thang nano cho cộng đồng nghiên cứu và công nghiệp tại Xứ Basque cũng như trên toàn thế giới.
Hệ thống mới này do Spanish Ministry of Science, Innovation and Universities tài trợ, là một phần của cơ sở hạ tầng Kính hiển vi Điện tử xứ Basque. Việc đưa TESCAN AMBER X Cryo Plasma FIB-SEM vào khai thác mở rộng đáng kể khả năng phân tích vật liệu, từ khoa học vật liệu đến khoa học đời sống.
1. CIC nanoGUNE và quyết định đầu tư TESCAN AMBER X Cryo Plasma FIB-SEM
CIC nanoGUNE là một viện nghiên cứu hàng đầu tại Xứ Basque, tập trung vào khoa học và công nghệ nano. Để nâng cấp năng lực đặc trưng vật liệu, viện đã lựa chọn cấu hình TESCAN AMBER X Cryo Plasma FIB-SEM, trong đó:
- Plasma FIB-SEM cung cấp khả năng phay ion tốc độ cao và khảo sát cấu trúc 3D ở thang nano.
- Hệ thống CRYO cho phép làm lạnh và cố định mẫu, bảo toàn cấu trúc tự nhiên của vật liệu nhạy nhiệt và mẫu sinh học.
Sự kết hợp này giúp các nhà khoa học tại CIC nanoGUNE có thể nghiên cứu vật liệu trong các điều kiện gần với trạng thái làm việc thực tế hơn, đồng thời giảm thiểu hư hỏng mẫu do chùm ion và chùm điện tử.
2. Cryo Plasma FIB-SEM là gì và vì sao quan trọng?
Cryo Plasma FIB-SEM là sự tích hợp giữa:
- Plasma FIB-SEM: sử dụng nguồn ion Plasma Xe (Xe+), cho phép phay với tốc độ cao, thể tích milling lớn và phù hợp với nhiều loại vật liệu cứng hoặc có cấu trúc phức tạp.
- Hệ CRYO: giữ mẫu ở nhiệt độ thấp (cryo), bảo tồn cấu trúc và hóa học bề mặt, đặc biệt quan trọng với vật liệu mềm, vật liệu nhạy nhiệt và mẫu sinh học.
Nhờ đó, Cryo Plasma FIB-SEM có thể vừa chuẩn bị mẫu, vừa chụp ảnh và phân tích trong điều kiện làm việc tối ưu cho những hệ vật liệu khó hoặc nhạy cảm.
3. Cấu hình nổi bật của TESCAN AMBER X Cryo Plasma FIB-SEM tại CIC nanoGUNE
Hệ thống Cryo Plasma FIB-SEM tại CIC nanoGUNE được cấu hình dựa trên nền tảng TESCAN AMBER X, với những điểm nổi bật sau:
- Bộ đầu dò mở rộng cho Khoa học Vật liệu: hỗ trợ phân tích cấu trúc, thành phần và tính chất vật liệu ở thang nano, phục vụ đa dạng ứng dụng nghiên cứu vật liệu tiên tiến.
- Nguồn ion Plasma Xe: cho phép milling tốc độ cao, đặc biệt hữu ích trong ngành công nghiệp pin, nơi cần khảo sát các lớp điện cực và cấu trúc bên trong với thể tích lớn hơn.
- TOF-SIMS (Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry): dùng để phân tích nguyên tố và phân tử với độ phân giải đồng vị, giúp hiểu sâu hơn về thành phần bề mặt và phân bố hóa học trong vật liệu.
- Sàn mẫu lạnh (CRYO stage): thiết lập riêng cho các ứng dụng sinh học, cho phép quan sát cấu trúc tế bào và mô ở trạng thái đông lạnh, giảm thiểu biến dạng do quá trình chuẩn bị mẫu.
4. Mở ra cơ hội nghiên cứu mới trong năng lượng, vật liệu và sinh học
Với cấu hình Cryo Plasma FIB-SEM, CIC nanoGUNE có thể mở rộng phạm vi nghiên cứu trong nhiều lĩnh vực:
- Năng lượng: nghiên cứu vật liệu pin, điện cực, lớp phủ chức năng và vật liệu cho hệ lưu trữ năng lượng tiên tiến.
- Khoa học vật liệu ở nhiệt độ thấp: kiểm tra tính chất và cơ chế hư hỏng trong các điều kiện nhiệt độ thấp, phù hợp với nhiều ứng dụng kỹ thuật đặc biệt.
- Khoa học sinh học: chụp cắt lớp tế bào, mô và cấu trúc sinh học bằng kỹ thuật cryo, giúp quan sát hình thái học gần với trạng thái tự nhiên nhất.

Những tính năng này mang lại cho cộng đồng nghiên cứu tại Xứ Basque và quốc tế một công cụ mạnh mẽ để khám phá thế giới vật liệu và sinh học ở cấp độ nano.
5. Giải pháp TESCAN Plasma FIB-SEM tại Việt Nam do MTECHNOLOGY tư vấn
Tại Việt Nam, Công ty TNHH Công Nghệ M (MTECHNOLOGY) là đơn vị tư vấn, cung cấp và hỗ trợ kỹ thuật cho dòng TESCAN Plasma FIB-SEM AMBER X và các cấu hình mở rộng như Cryo, TOF-SIMS và các đầu dò phân tích vật liệu nâng cao.
MTECHNOLOGY đồng hành cùng khách hàng trong các dự án:
- Nghiên cứu và phát triển vật liệu tiên tiến ở thang nano
- Phân tích lỗi (failure analysis) trong công nghiệp, đặc biệt là pin và bán dẫn
- Chuẩn bị mẫu và phân tích vật liệu cho khoa học đời sống và sinh học
- Tư vấn cấu hình hệ thống phù hợp với nhu cầu phòng thí nghiệm và trung tâm nghiên cứu
Quý khách đừng ngần ngại liên hệ với MTECHNOLOGY để được tư vấn chi tiết về giải pháp TESCAN Plasma FIB-SEM AMBER X, cấu hình Cryo Plasma FIB-SEM và các ứng dụng trong nghiên cứu vật liệu, năng lượng và sinh học.

Tiếng Việt
日本語 (Japan)
한국어 (Korean)
中文 (Chinese)
English (UK)