Tìm kiếm
Đăng nhập
Sản phẩm
TEM - Kính hiển vi điện tử truyền qua
FIB-SEM - Kính hiển vi điện tử quét chùm ion hội tụ
SEM, FE-SEM - Kính hiển vi điện tử quét
Dynamic Micro-CT - Máy chụp cắt lớp Micro-CT động
CMM - Máy đo 3D CMM
OES - Máy phân tích quang phổ
Dịch vụ
Ứng dụng
Khoa học vật liệu
Khoa học sự sống
Điện tử - Bán dẫn
Khoa học trái đất & Khai khoáng
TechBlog
Kính hiển vi điện tử quét SEM
Máy đo 3D CMM
Máy phân tích quang phổ
Webinar
Về chúng tôi
Công ty TNHH Công nghệ M
Tin tức và sự kiện
Câu hỏi thường gặp
Tuyển dụng
Liên hệ
Sản phẩm
SEM & FE-SEMKính hiển vi điện tử quét
FIB-SEMFocused Ion Beam SEM
TEMKính hiển vi điện tử truyền qua
Dynamic Micro-CTMáy chụp cắt lớp Micro-CT động
CMMMáy đo 3D
OESMáy phân tích quang phổ
Yêu cầu báo giá
Your browser has cookies disabled. Make sure that your cookies are enabled and try again.
Learn More
Họ và tên
*
Điện thoại di động
*
Địa chỉ email
Tên công ty, cơ quan
Sản phẩm quan tâm?
*
Kính hiển vi điện tử quét SEM/FE-SEM/FIB-SEM
Kính hiển vi điện tử truyền qua TEM
Máy phân tích quang phổ/phân tích nguyên tố
Máy đo 3D/Máy CMM/Máy đo tọa độ 3 chiều
Máy kiểm tra micron CT X-Rays
Thiết bị khác
Yêu cầu liên quan khác
Gửi yêu cầu
Tìm kiếm
Đăng nhập
Sản phẩm
TEM - Kính hiển vi điện tử truyền qua
FIB-SEM - Kính hiển vi điện tử quét chùm ion hội tụ
SEM, FE-SEM - Kính hiển vi điện tử quét
Dynamic Micro-CT - Máy chụp cắt lớp Micro-CT động
CMM - Máy đo 3D CMM
OES - Máy phân tích quang phổ
Dịch vụ
Ứng dụng
Khoa học vật liệu
Khoa học sự sống
Điện tử - Bán dẫn
Khoa học trái đất & Khai khoáng
TechBlog
Kính hiển vi điện tử quét SEM
Máy đo 3D CMM
Máy phân tích quang phổ
Webinar
Về chúng tôi
Công ty TNHH Công nghệ M
Tin tức và sự kiện
Câu hỏi thường gặp
Tuyển dụng
Liên hệ