Trong một cuộc phỏng vấn độc quyền gần đây với AZoM, ấn phẩm trực tuyến hàng đầu dành cho cộng đồng khoa học vật liệu, Petr Klímek - Giám đốc Marketing Sản phẩm của chúng tôi trong lĩnh vực Khoa học Vật liệu đã đào sâu vào năng lực và cách đánh dấu thành công một bước tiến đáng kể của TESCAN CLARA.

Hãy cùng chúng tôi khám phá tiềm năng này của TESCAN CLARA khi Petr cung cấp cái nhìn sâu sắc và độc đáo về công nghệ SEM đột phá của chúng tôi. Bài phỏng vấn này nêu bật về tương lai của phân tích bề mặt ở thang nano, thực hiện bởi một trong những bộ óc hàng đầu của ngành.

Bà Anne Delobbe là một chuyên gia về công nghệ chùm ion hội tụ, có ảnh hưởng đáng kể đến sự đổi mới tại ORSAY PHYSICS và TESCAN. Với hơn 20 năm kinh nghiệm, bà mang đến sự hiểu biết sâu sắc và tầm nhìn cho các dự án và thiết bị mới. Được truyền cảm hứng từ sự lãnh đạo với tầm nhìn xa của người sáng lập ORSAY PHYSICS là ông Pierre Sudraud, Anne và các cộng sự của bà đã tập trung vào việc áp dụng công nghệ Plasma vào các cột chùm ion hội tụ (PFIB). Công nghệ này đã đạt đến đỉnh cao khi ra mắt TESCAN AMBER X 2, một hệ thống PFIB tiên tiến, đặt ra các tiêu chuẩn mới trong nghiên cứu khoa học vật liệu.

TESCAN TENSOR với với giao diện người dùng Explore^TM cải tiến, giúp tăng trải nghiệm người dùng bằng cách giảm thiểu việc điều chỉnh và căn chỉnh tốn nhiều công sức khi dùng Kính hiển vi điện tử truyền quét (STEM).

Chìa khóa để hiểu cách vật liệu phản ứng với các điều kiện cụ thể là phân tích đầy đủ các đặc tính của nó. FIB-SEM và SEM cung cấp hình ảnh bề mặt mẫu, còn Nhiễu xạ điện tử tán xạ ngược (EBSD) có thể tiết lộ các pha tinh thể và sự phân bố của chúng. EBSD cũng cung cấp thông tin về định hướng hạt trong vật liệu. Bài viết này nghiên cứu về việc sử dụng kỹ thuật Đánh bóng góc hẹp (Low Angle Polishing) trong TESCAN Plasma FIB-SEM để chuẩn bị vật liệu nhiều pha cho ứng dụng EBSD.

Trong Webinar vào ngày 16/01/2024, Tiến sĩ Tomáš Šamořil (TESCAN Group) đã giới thiệu sức mạnh tổng hợp mạnh mẽ giữa FIB-SEM và ToF-SIMS, giúp nâng cao đáng kể hoạt động nghiên cứu pin Lithium-ion.

Bạn đã bỏ lỡ hội thảo trên web? Đừng lo lắng, chúng tôi đã tổng hợp một số câu trả lời cho các câu hỏi để đảm bảo bạn không bỏ lỡ những thông tin chi tiết có giá trị được chia sẻ trong webinar ngày hôm đó.

Viện CIC nanoGUNE (Tây Ban Nha) gần đây vừa đầu tư một hệ thống Cryo Plasma FIBSEM với cấu hình TESCAN AMBER X - thiết bị tiên tiến hỗ trợ nghiên cứu vật liệu thang nano.

Trung tâm nghiên cứu và ứng dụng khoa học công nghệ Phần Lan - VTT đã đầu tư hàng triệu USD vào TESCAN AMBER X - Hệ Plasma FIB-SEM đầu tiên tại Phần Lan. Khoản đầu tư này sẽ đóng góp đáng kể cho hoạt động nghiên cứu vật liệu của Phần Lan cho các ứng dụng như nền kinh tế hydro, vi điện tử, công nghiệp hàng hải và kiểm tra lỗi vật liệu.

Tescan Spectral CT mang đến hướng đi mới cho lĩnh vực Micro-CT

Trong một cuộc phỏng vấn độc quyền trên AZOM, Wesley De Boever, Giám đốc Marketing Sản phẩm của TESCAN, đã giới thiệu về TESCANSpectral CT - giải pháp đầu tiên và duy nhất có khả năng phân tích dành cho hệ thống chụp ảnh micro-CT.