Từ hạ tầng đến giá trị khoa học: Khai thác toàn diện tiềm năng của giải pháp kính hiển vi điện tử và Micro-CT trong các Core Facility nghiên cứu vật liệu

Giới thiệu webinar

Trong bối cảnh khoa học vật liệu ngày càng phát triển, các cơ sở nghiên cứu dùng chung (Core Facilities) đang đứng trước áp lực lớn: làm thế nào để đáp ứng số lượng dự án ngày càng tăng, đào tạo người dùng mới trong thời gian ngắn mà vẫn đảm bảo dữ liệu đầu ra phải đầy đủ, đáng tin cậy và có khả năng tái lập.

Để giải quyết những thách thức này, các công nghệ tiên tiến như Plasma FIB-SEM (PFIB), SEM siêu phân giải đa phương thức và Chụp cắt lớp X-quang (Micro-CT) đang trở thành những công cụ không thể thiếu.

Tại sao các công nghệ này lại là "chìa khóa" thành công?

Các hệ thống thiết bị hiện đại ngày nay không chỉ dừng lại ở việc cung cấp hình ảnh đơn thuần. Theo các nguồn tin, chúng sở hữu những ưu điểm vượt trội phù hợp với môi trường nghiên cứu đa người dùng:

• Khả năng phân tích đa dạng: Có thể xử lý nhiều loại mẫu khác nhau với độ chính xác cao về đặc tính phân tích.

• Tính tiếp cận cao: Được thiết kế để những người dùng ở mọi cấp độ kinh nghiệm đều có thể sử dụng hiệu quả.

• Tối ưu hóa quy trình: Giúp chuyển đổi các yêu cầu phân tích phức tạp thành những kết quả nghiên cứu có tác động cao một cách nhanh chóng.

Về diễn giả

Kinh nghiệm thực tiễn từ các chuyên gia hàng đầu

Sự kiện webinar sắp tới của Tescan sẽ mang đến cái nhìn sâu sắc từ hai cơ sở nghiên cứu hàng đầu châu Âu là SpinLab Katowice (Ba Lan) và TU Graz (Áo).

1. TS. Marcin Libera (SPIN-Lab): Chuyên gia về hiển vi điện tử sẽ chia sẻ về các quy trình hiển vi tương quan (correlative microscopy). Ông tập trung vào việc kết hợp hình ảnh độ phân giải cao với các phương pháp phân tích bổ trợ để làm rõ mối quan hệ giữa cấu trúc và thành phần trong các vật liệu tiên tiến, bao gồm cả vật liệu mềm.

2. PGS. Robert Schennach (TU Graz): Với kinh nghiệm điều phối liên minh Micro-CT đa thiết chế, ông sẽ cung cấp những hiểu biết thực tế về cách vận hành hạ tầng chụp cắt lớp dùng chung và cách chuyển đổi các nhu cầu đo lường phức tạp thành kết quả nghiên cứu đáng tin cậy.

Bạn sẽ học được gì

Nếu bạn là một nhà khoa học vật liệu, quản lý phòng thí nghiệm hoặc chuyên gia phân tích lỗi, đây là sự kiện không thể bỏ qua để tìm hiểu về:

• Chiến lược tối ưu hóa: Cách đạt được hiệu suất sử dụng thiết bị tối đa và rút ngắn thời gian đào tạo người dùng mới.

• Quy trình tiên tiến: Cách kết hợp PFIB, SEM và Micro-CT trong một quy trình làm việc thống nhất để phục vụ nghiên cứu đa ngành.

• Giải pháp cho vật liệu phức tạp: Các phương pháp xử lý mẫu không đồng nhất và phức tạp để đảm bảo dữ liệu đạt tác động cao.

Webinar dành cho ai

Nhà nghiên cứu vật liệu và khoa học liên quan,
Nhân sự điều hành core facilities,
Chuyên viên phân tích & failure analysis,
Người chuẩn bị hay đang sử dụng SEM, FIB-SEM, micro-CT hoặc các thiết bị tương tự.