MTECHNOLOGY MTECHNOLOGY
Đăng nhập
MTECHNOLOGY MTECHNOLOGY
  • Sản phẩm
    • TEM - Kính hiển vi điện tử truyền qua
    • FIB-SEM - Kính hiển vi điện tử quét chùm ion hội tụ
    • SEM, FE-SEM - Kính hiển vi điện tử quét
    • Dynamic Micro-CT - Máy chụp cắt lớp Micro-CT động
    • CMM - Máy đo 3D CMM
    • OES - Máy phân tích quang phổ
  • Dịch vụ
  • Ứng dụng
    • Khoa học vật liệu
    • Khoa học sự sống
    • Điện tử - Bán dẫn
    • Khoa học trái đất & Khai khoáng
  • TechBlog
    • Kính hiển vi điện tử quét SEM
    • Máy đo 3D CMM
    • Máy phân tích quang phổ
  • Webinar
  • Về chúng tôi
    • Công ty TNHH Công nghệ M
    • Tin tức và sự kiện
    • Câu hỏi thường gặp
    • Tuyển dụng
  • Liên hệ
  • EN
  1. Ứng dụng
  2. Điện tử - Bán dẫn

Điện tử - Bán dẫn

Ứng dụng SEM trong điện tử bán dẫnKính hiển vi điện tử quét (SEM) kết hợp với chùm ion hội tụ (FIB) là một kỹ thuật lý tưởng đồng hành cùng với sự phát triển của công nghiệp bán dẫn bằng khả năng phân tích tuyệt vời cho độ chính xác cao.
Công nghiệp bán dẫn đang tham gia vào một cuộc chạy đua quyết liệt với mục tiêu là khả năng tích hợp cao, mật độ cao và sự thu nhỏ của thiết bị. Kết quả là sự phát triển của nhiều công nghệ mới như mạch tích hợp (IC) 3D giúp tích hợp nhiều chức năng vào thiết bị nhỏ với khả năng xử lý nhanh và tiêu thụ điện năng ít. Tuy nhiên, để làm được mạch tích hợp phức tạp này thì đòi hỏi cần những công cụ tinh vi cho việc phát triển, tạo mẫu, kiểm tra, phân tích lỗi...

 

Filters
Kính hiển vi điện tử quét SEM trong Phân tích lỗi Mạch tích hợp (IC)
Kính hiển vi điện tử quét SEM hỗ trợ Công nghệ Through Silicon Vias
Kính hiển vi điện tử quét SEM trong Công nghệ màn hình
Kính hiển vi điện tử quét SEM trong Kiểm tra hàn dây, hàn chíp
Kính hiển vi điện tử quét SEM với Hệ thống vi cơ điện tử (MEMS)
Kính hiển vi điện tử quét SEM với Mảng lưới bóng (Ball Grid Array)

Recorded Video

Chủ đề: SEM & FE-SEM đến từ "Thánh địa Kính hiển vi điện tử" - Tp. Brno-CH Séc

Người trình bày: Lê Văn Thương
Ngôn ngữ: Tiếng Việt

SEM FEG-SEM TESCAN
  • [WHY] Tại sao chúng ta cần Kính hiển vi điện tử quét?

  • [WHAT] Kính hiển vi SEM/FESEM:
    Nguyên lý + Ứng dụng
    Giới thiệu hãng TESCAN
    Giới thiệu các dòng SEM TESCAN

  • [HOW] Làm sao lựa chọn SEM phù hợp nhu cầu

  • [Q&A] Các câu hỏi thường gặp
    Giải đáp các thắc mắc khác
>> Xem chi tiết
Hoặc Đăng nhập tại đây

Điện tử - Bán dẫn

  • Kính hiển vi điện tử quét SEM trong Phân tích lỗi Mạch tích hợp (IC)
  • Kính hiển vi điện tử quét SEM hỗ trợ Công nghệ Through Silicon Vias
  • Kính hiển vi điện tử quét SEM trong Công nghệ màn hình
  • Kính hiển vi điện tử quét SEM trong Kiểm tra hàn dây, hàn chíp
  • Kính hiển vi điện tử quét SEM với Hệ thống vi cơ điện tử (MEMS)
  • Kính hiển vi điện tử quét SEM với Mảng lưới bóng (Ball Grid Array)

Sản phẩm liên quan

SEM & FE-SEM
Kính hiển vi điện tử quét

SEM Kính hiển vi điện tử quét

FIB-SEM
Focused Ion Beam SEM

FIB SEM chùm tia hội tụ

TEM
Kính hiển vi điện tử truyền qua

TEM - Kính hiển vi điện tử truyền qua

Dynamic Micro-CT
Máy chụp cắt lớp Micro-CT động

Dynamic MicroCT
  • Kính hiển vi điện tử truyền qua TEM
  • Kính hiển vi điện tử quét SEM FE-SEM
    • SEM cho khoa học vật liệu
      • TESCAN VEGA Compact
      • TESCAN VEGA
      • TESCAN MIRA
      • TESCAN CLARA
      • TESCAN MAGNA
    • SEM cho khoa học sự sống
      • TESCAN CLARA cryo
      • TESCAN MAGNA
    • SEM cho Khoa học Trái đất & Khai khoáng
      • TESCAN TIMA (Khoa học Trái Đất)
      • TESCAN TIMA (Khai khoáng)
  • Kính hiển vi điện tử quét chùm ion hội tụ FIB-SEM
    • FIB-SEM cho khoa học vật liệu
      • TESCAN AMBER X
      • TESCAN AMBER
      • TESCAN SOLARIS
    • FIB-SEM cho khoa học sự sống
      • TESCAN AMBER cryo
      • TESCAN SOLARIS
    • FIB-SEM cho Điện tử - Bán dẫn
      • TESCAN AMBER X
      • TESCAN SOLARIS
      • TESCAN SOLARIS X
  • Máy chụp cắt lớp Micro-CT động - Dynamic MicroCT
    • Micro-CT cho khoa học vật liệu
      • TESCAN UniTOM HR
      • TESCAN UniTOM XL
      • TESCAN DynaTOM
    • Micro-CT cho Khoa học Trái Đất
      • TESCAN CoreTOM
      • TESCAN DynaTOM
  • Máy đo 3D CMM
    • Navigator
    • Cruiser
    • Excellent
    • Miracle
    • Tornado
    • Tornado-P
  • Máy phân tích quang phổ
    • Metavision 10008X
    • Metavision 1008i3
    • Metavision 1008i
    • Metavision 108N series
    • Metavision 108M
    • MOSS - nhỏ nhất thế giới

Công ty TNHH Công nghệ M

Phòng 1.10, Lầu 1, Toà nhà Phố Đông, Số 1, Đường D31, P. Phước Long B, Tp. Thủ Đức, Tp.HCM
MST: 0311014975

Văn phòng Hà Nội: Số 6C, 59/1 Khúc Thừa Dụ, P. Dịch Vọng, Q. Cầu Giấy, Tp. Hà Nội

Văn phòng Hồ Chí Minh: Sơ đồ đường đi >>>>
Số 8 Đường N8, Mega Ruby Khang Điền, Phường Phú Hữu, Tp Thủ Đức, Tp HCM
Điện thoại: (028).6288.9639 - 0988.248.156 (Mr Thương)
Email: levanthuong@mtechnology.vn

  • Trang chủ
  • Chính sách bảo mật
  • Thỏa thuận sử dụng
  • Đăng nhập
  • Tescan
  • Delong America
  • API Metrology
  • Leader Metrology
  • Metal Power

 

dathongbao

 

MTECHNOLOGY MTECHNOLOGY
Đăng nhập
  • Sản phẩm
    • TEM - Kính hiển vi điện tử truyền qua
    • FIB-SEM - Kính hiển vi điện tử quét chùm ion hội tụ
    • SEM, FE-SEM - Kính hiển vi điện tử quét
    • Dynamic Micro-CT - Máy chụp cắt lớp Micro-CT động
    • CMM - Máy đo 3D CMM
    • OES - Máy phân tích quang phổ
  • Dịch vụ
  • Ứng dụng
    • Khoa học vật liệu
    • Khoa học sự sống
    • Điện tử - Bán dẫn
    • Khoa học trái đất & Khai khoáng
  • TechBlog
    • Kính hiển vi điện tử quét SEM
    • Máy đo 3D CMM
    • Máy phân tích quang phổ
  • Webinar
  • Về chúng tôi
    • Công ty TNHH Công nghệ M
    • Tin tức và sự kiện
    • Câu hỏi thường gặp
    • Tuyển dụng
  • Liên hệ
  • EN