Kính hiển vi điện tử quét SEM & FE-SEM TESCAN


Advanced SEM Built for Discovery

Độ chính xác, hiệu suất và khả năng sử dụng vượt trội – tất cả được thiết kế để đáp ứng yêu cầu khắt khe của nghiên cứu hiện đại trong cả khoa học vật liệu và khoa học sự sống.

Không chỉ là những thiết bị, các giải pháp của chúng tôi giúp bạn giải quyết những câu hỏi phức tạp với sự rõ ràng và tự tin. Được các phòng thí nghiệm hàng đầu trên thế giới tin tưởng, hệ thống Tescan mang đến kết quả nhanh chóng, chi tiết, đồng thời đội ngũ chuyên gia của chúng tôi luôn đồng hành cùng bạn để tìm ra con đường phù hợp nhất cho nghiên cứu, đội ngũ và mục tiêu của bạn.

TESCAN VEGA COMPACT – Kính hiển vi điện tử quét (SEM) phân tích phổ thông với Wide Field Optics™ & Essence™ EDS tích hợp

TESCAN VEGA COMPACT – Kính hiển vi điện tử quét (SEM) phân tích phổ thông với Wide Field Optics™ & Essence™ EDS tích hợp

TESCAN VEGA COMPACTkính hiển vi điện tử quét phân tích phổ thông (entry-level analytical SEM) mạnh mẽ, được thiết kế cho đặc trưng vật liệu định kỳ, kiểm soát chất lượng, phân tích lỗi và nghiên cứu ở thang micromet. Với nguồn electron tungsten, hệ quang học không khẩu độ sử dụng Intermediate Lens™ được hỗ trợ bởi In-Flight Beam Tracing™, Wide Field Optics™ cho ảnh tổng quan SEM trực tiếp và Essence™ EDS tích hợp hoàn toàn, VEGA COMPACT hợp nhất chụp ảnh và phân tích nguyên tố trong cùng một cửa sổ phần mềm để rút ngắn thời gian thu dữ liệu.

TESCAN VEGA – Analytical SEM với Wide Field Optics™, Intermediate Lens™ & In-Flight Beam Tracing

TESCAN VEGA – Analytical SEM với Wide Field Optics™, Intermediate Lens™ & In-Flight Beam Tracing

TESCAN VEGAkính hiển vi điện tử quét (analytical SEM) dành cho đặc trưng vật liệu định kỳ, nghiên cứu và kiểm soát chất lượng ở thang micromet. Với nguồn điện tử sợi đốt tungsten, Intermediate Lens™ kết hợp In-Flight Beam Tracing™, Wide Field Optics™ và tùy chọn tích hợp Essence™ EDS, VEGA hợp nhất chụp ảnh SEM và phân tích nguyên tố trực tiếp trong cùng một cửa sổ phần mềm, giúp rút ngắn thời gian thu dữ liệu.

TESCAN MIRA – Kính hiển vi điện tử quét phân tích độ phân giải cao tích hợp Essence™ EDS

TESCAN MIRA – Kính hiển vi điện tử quét phân tích độ phân giải cao tích hợp Essence™ EDS

TESCAN MIRAkính hiển vi điện tử quét phân tích độ phân giải cao (analytical SEM) dành cho đặc trưng vật liệu định kỳ, nghiên cứu và kiểm soát chất lượng ở thang cận micromet. Với nguồn Schottky FEG, Intermediate Lens™ kết hợp In-Flight Beam Tracing™ và tùy chọn tích hợp Essence™ EDS, MIRA hợp nhất chụp ảnh SEM và phân tích nguyên tố trực tiếp trong một quy trình, rút ngắn đáng kể thời gian thu dữ liệu.

TESCAN MIRA XR – FE-SEM UHR với tự động hóa thông minh & Dual Essence™ EDS

TESCAN MIRA XR – FE-SEM UHR với tự động hóa thông minh & Dual Essence™ EDS

TESCAN MIRA XRkính hiển vi điện tử quét phát xạ trường (FE-SEM) phân tích, tốc độ cao, độ phân giải siêu cao dành cho khoa học vật liệu, QA/QC và các phòng thí nghiệm nghiên cứu. Hệ kết hợp bố cục detector hiệu quả, Wide Field Optics™ cho ảnh tổng quan SEM trực tiếp, cùng tự động hoá In-Flight™ để giảm tối đa thao tác căn chỉnh thủ công và rút ngắn thời gian lấy dữ liệu. Với Dual Essence™ EDS tích hợp hoàn toàn trong cửa sổ SEM trực tiếp, người dùng chuyển mượt giữa điều kiện chụp ảnh và phân tích.

TESCAN CLARA – Kính hiển vi điện tử quét UHR SEM ảnh low-kV tương phản cao với BrightBeam

TESCAN CLARA – Kính hiển vi điện tử quét UHR SEM ảnh low-kV tương phản cao với BrightBeam

TESCAN CLARAkính hiển vi điện tử quét trường phát xạ (UHR FE-SEM) tối ưu cho ảnh low-kV tương phản cao và ổn định, nhờ BrightBeam™, In-Flight™ AutomationMultiVac™. Hệ thống phù hợp cho R&D và QA/QC cần throughput cao, tích hợp phân tích nguyên tố với Essence™.

TESCAN MAGNA – Kính hiển vi điện tử quét UHR SEM với quang học nhúng TriLen

TESCAN MAGNA – Kính hiển vi điện tử quét UHR SEM với quang học nhúng TriLens

TESCAN MAGNAkính hiển vi điện tử quét phát xạ trường độ phân giải siêu cao (UHR FE-SEM) được xây dựng trên nền tảng cột Triglav™ với hệ quang nhúng TriLens™. Hệ thống mang lại ảnh dưới 1 nm ở điện áp thấp đồng thời duy trì khả năng phân tích toàn diện, lý tưởng cho khoa học vật liệu tiên tiến, bán dẫn và công nghệ nano.

TESCAN TIMA – Phân tích khoáng vật tự động với tối đa 4 đầu dò EDS tích hợp

TESCAN TIMA – Phân tích khoáng vật tự động với tối đa 4 đầu dò EDS tích hợp

TESCAN TIMA là hệ thống phân tích khoáng vật tự động (Automated Mineralogy) được thiết kế chuyên biệt cho ngành khoa học Trái Đất và chế biến khoáng sản. Hệ thống tự động nhận dạng và định lượng khoáng vật dựa trên thuật toán và cơ sở dữ liệu khoáng học tích hợp sẵn. Với tối đa 4 đầu dò EDS tích hợp cùng thuật toán tổng phổ (spectral summing) có độ nhạy cao, TIMA cung cấp dữ liệu nhanh, tin cậy và có thể hoạt động như một FE-SEM hiệu năng cao cho các ứng dụng hiển vi và vi phân tích thông thường.