Kính hiển vi điện tử quét (SEM) phân tích nhỏ gọn cho khả năng chụp ảnh và phân tích EDS nhanh chóng, chất lượng cao trong khoa học vật liệu, QA/QC và giáo dục.

Tescan VEGA Compact mang đến khả năng chụp ảnh độ phân giải cao và hệ thống Phổ tán sắc năng lượng (EDS) tích hợp trong một hệ thống đơn giản hóa, tiết kiệm không gian. Với phần mềm Tescan Essence™ trực quan và một buồng lớn có thể chứa các mẫu kích thước công nghiệp, đây là lựa chọn lý tưởng cho việc phân tích vật liệu hàng ngày, đáng tin cậy - ngay hôm nay và trong tương lai.

Nền tảng kính hiển vi điện tử quét (SEM) với sợi đốt vonfram cho hình ảnh và phân tích đáng tin cậy, chi phí thấp trong kiểm soát chất lượng (QA/QC) và giáo dục.

Tescan VEGA cung cấp khả năng chụp ảnh độ phân giải cao và hệ thống Phổ tán sắc năng lượng (EDS) tích hợp trong một hệ thống SEM nhỏ gọn, không cần khẩu độ, được tối ưu hóa cho sự dễ dàng sử dụng. Với công nghệ Wide Field Optics™ và yêu cầu đào tạo tối thiểu, nó cho phép điều hướng và vận hành nhanh chóng cho việc phân tích vật liệu hàng ngày.

Nền tảng kính hiển vi điện tử quét phát xạ trường (FEG-SEM) dạng mô-đun dành cho nghiên cứu phân tích và phân tích lỗi với khả năng tích hợp đầu dò có thể mở rộng.

Tescan MIRA cung cấp khả năng chụp ảnh độ phân giải cao, dòng điện tử mạnh mẽ với quang học Schottky FEG và hỗ trợ các công cụ như EDS, EBSD, CL, STEM và tạo mẫu nano. Thiết kế mô-đun cùng các tùy chọn nâng cấp giúp nó phù hợp với nhu cầu phòng thí nghiệm đang phát triển trong nghiên cứu và QA/QC.

Nền tảng SEM UHR hiệu năng cao tích hợp EDS dành cho các phòng thí nghiệm dùng chung và môi trường kiểm soát chất lượng.

MIRA XR kết hợp quang học UHR BrightBeam™, Quang học Trường Rộng (Wide Field Optics™), và Dual Essence™ EDS để tạo ra hình ảnh độ phân giải cao liền mạch cùng khả năng phân tích thành phần trực tiếp. Được tối ưu hóa cho nhiều đối tượng người dùng khác nhau, nó tự tin xử lý các mẫu bị nhiễm điện, không dẫn điện và mẫu thoát khí.

Nền tảng SEM UHR (Độ phân giải siêu cao) không từ trường để tạo ảnh có độ tương phản cao cho các vật liệu tinh vi và không dẫn điện.

Tescan CLARA cung cấp hình ảnh độ phân giải dưới nanô-mét với quang học BrightBeam™ và hệ thống phát hiện có thể tùy chỉnh. Được thiết kế cho các vật liệu nhạy cảm, nó hỗ trợ quy trình làm việc đa phương thức linh hoạt và các thí nghiệm tại chỗ (in-situ) với độ tương phản vượt trội ở keV thấp (điện áp chùm tia thấp).

Nền tảng SEM nhúng TriLens™ được tối ưu hóa cho tạo ảnh nano có độ tương phản khắt khe và phân tích STEM-in-SEM.

Tescan MAGNA tận dụng quang học nhúng TriLens™ và các đầu dò chọn lọc năng lượng để cung cấp độ tương phản sắc nét, không bị trộn lẫn ở độ phân giải cao—ngay cả ở khoảng cách làm việc lớn hoặc trên các bề mặt nghiêng. Được thiết kế chuyên biệt cho các mặt cắt ngang, vật liệu nano và phân tích lỗi nâng cao.

Nền tảng khoáng vật học tự động để phân tích định lượng từng hạt trong khoa học địa chất và chế biến khoáng sản.

TESCAN TIMA kết hợp SEM-EDS thông lượng cao với khả năng nhận dạng khoáng vật tự động và phân tích cấu trúc để cung cấp dữ liệu khoáng vật học định lượng, có khả năng tái lập trên quy mô lớn. Với tính năng tạo ảnh tương quan tích hợp (BSE, EDS, CL) và quy trình làm việc hoàn toàn tự động, TIMA hỗ trợ thăm dò, tối ưu hóa quy trình và nghiên cứu học thuật—mà không cần diễn giải thủ công hay chịu ảnh hưởng bởi sự thiên vị của người dùng.