Sự tiến bộ vượt bậc của khoa học vật liệu và công nghệ nano trong thập kỷ qua đã đặt ra những thách thức chưa từng có đối với các kỹ thuật phân tích vi mô. Các nhà nghiên cứu không còn hài lòng với việc chỉ quan sát hình thái bề mặt đơn thuần; họ yêu cầu sự hiểu biết thấu đáo về mối liên hệ giữa cấu trúc nano, thành phần hóa học phân tử và các tính chất cơ lý tại cùng một vị trí trên mẫu vật. Trong bối cảnh đó, hệ thống RISE (Raman Imaging and Scanning Electron Microscopy) của TESCAN, được phát triển thông qua sự hợp tác chiến lược với WITec, đã nổi lên như một giải pháp mang tính cách mạng, thiết lập một tiêu chuẩn mới cho hiển vi tương quan.

TESCAN VEGA COMPACT là kính hiển vi điện tử quét phân tích phổ thông (entry-level analytical SEM) mạnh mẽ, được thiết kế cho đặc trưng vật liệu định kỳ, kiểm soát chất lượng, phân tích lỗi và nghiên cứu ở thang micromet. Với nguồn electron tungsten, hệ quang học không khẩu độ sử dụng Intermediate Lens™ được hỗ trợ bởi In-Flight Beam Tracing™, Wide Field Optics™ cho ảnh tổng quan SEM trực tiếp và Essence™ EDS tích hợp hoàn toàn, VEGA COMPACT hợp nhất chụp ảnh và phân tích nguyên tố trong cùng một cửa sổ phần mềm để rút ngắn thời gian thu dữ liệu.

TESCAN VEGA là kính hiển vi điện tử quét (analytical SEM) dành cho đặc trưng vật liệu định kỳ, nghiên cứu và kiểm soát chất lượng ở thang micromet. Với nguồn điện tử sợi đốt tungsten, Intermediate Lens™ kết hợp In-Flight Beam Tracing™, Wide Field Optics™ và tùy chọn tích hợp Essence™ EDS, VEGA hợp nhất chụp ảnh SEM và phân tích nguyên tố trực tiếp trong cùng một cửa sổ phần mềm, giúp rút ngắn thời gian thu dữ liệu.

TESCAN MIRA là kính hiển vi điện tử quét phân tích độ phân giải cao (analytical SEM) dành cho đặc trưng vật liệu định kỳ, nghiên cứu và kiểm soát chất lượng ở thang cận micromet. Với nguồn Schottky FEG, Intermediate Lens™ kết hợp In-Flight Beam Tracing™ và tùy chọn tích hợp Essence™ EDS, MIRA hợp nhất chụp ảnh SEM và phân tích nguyên tố trực tiếp trong một quy trình, rút ngắn đáng kể thời gian thu dữ liệu.

TESCAN MIRA XR là kính hiển vi điện tử quét phát xạ trường (FE-SEM) phân tích, tốc độ cao, độ phân giải siêu cao dành cho khoa học vật liệu, QA/QC và các phòng thí nghiệm nghiên cứu. Hệ kết hợp bố cục detector hiệu quả, Wide Field Optics™ cho ảnh tổng quan SEM trực tiếp, cùng tự động hoá In-Flight™ để giảm tối đa thao tác căn chỉnh thủ công và rút ngắn thời gian lấy dữ liệu. Với Dual Essence™ EDS tích hợp hoàn toàn trong cửa sổ SEM trực tiếp, người dùng chuyển mượt giữa điều kiện chụp ảnh và phân tích.

TESCAN CLARA là kính hiển vi điện tử quét trường phát xạ (UHR FE-SEM) tối ưu cho ảnh low-kV tương phản cao và ổn định, nhờ BrightBeam™, In-Flight™ Automation và MultiVac™. Hệ thống phù hợp cho R&D và QA/QC cần throughput cao, tích hợp phân tích nguyên tố với Essence™.

TESCAN MAGNA là kính hiển vi điện tử quét phát xạ trường độ phân giải siêu cao (UHR FE-SEM) được xây dựng trên nền tảng cột Triglav™ với hệ quang nhúng TriLens™. Hệ thống mang lại ảnh dưới 1 nm ở điện áp thấp đồng thời duy trì khả năng phân tích toàn diện, lý tưởng cho khoa học vật liệu tiên tiến, bán dẫn và công nghệ nano.

TESCAN TIMA là hệ thống phân tích khoáng vật tự động (Automated Mineralogy) được thiết kế chuyên biệt cho ngành khoa học Trái Đất và chế biến khoáng sản. Hệ thống tự động nhận dạng và định lượng khoáng vật dựa trên thuật toán và cơ sở dữ liệu khoáng học tích hợp sẵn. Với tối đa 4 đầu dò EDS tích hợp cùng thuật toán tổng phổ (spectral summing) có độ nhạy cao, TIMA cung cấp dữ liệu nhanh, tin cậy và có thể hoạt động như một FE-SEM hiệu năng cao cho các ứng dụng hiển vi và vi phân tích thông thường.