Các hạt có kích thước micromet chứa đựng những thông tin cốt lõi và cực kỳ quan trọng trong các nghiên cứu về môi trường, địa chất và khoa học hạt nhân. Để có thể mô tả cũng như định danh toàn diện các đặc tính của chúng, các nhà nghiên cứu thường không thể chỉ dựa vào một phương pháp phân tích đơn lẻ. Nhằm giải quyết bài toán này, TESCAN trân trọng giới thiệu giải pháp thông qua buổi hội thảo trực tuyến chuyên sâu, mang đến cái nhìn toàn diện về sự kết hợp đồng bộ giữa các thiết bị vi phân tích hàng đầu hiện nay.

Diễn giả:

• Giáo sư William Rickard - Giám đốc Trung tâm John de Laeter, Đại học Curtin

• Eligiusz Przemyslaw Gugala - Giám đốc Sản phẩm giải pháp TIMA & SEM, TESCAN

Nội dung chính của Webinar

Tại Webinar này, Giáo sư William Rickard sẽ trình bày các quy trình làm việc tích hợp công nghệ Khoáng vật học tự động (Automated Mineralogy), Hệ kính hiển vi điện tử quét kết hợp chùm ion hội tụ (FIB-SEM), Khối phổ ion thứ cấp thời gian bay (ToF-SIMS) và Khối phổ ion thứ cấp hình học lớn (LG-SIMS) để tiến hành phân tích tuần tự trên một hạt đơn lẻ hoặc một vùng biểu thị được quan tâm (ROI).

Bằng cách sử dụng một tấm nền silicon có cấu trúc định vị sẵn (patterned silicon substrate) kết hợp với thuật toán biến đổi tọa độ affine, đội ngũ nghiên cứu của ông đã thành công trong việc tái định vị chính xác vị trí của hạt khi di chuyển mẫu qua lại giữa các thiết bị hiển vi điện tử và thiết bị khối phổ khác nhau. Phương pháp tiếp cận mang tính đột phá này hỗ trợ quá trình tìm kiếm hạt trên diện rộng với hiệu suất cao (high-throughput), sau đó tiến hành phân tích định danh mục tiêu sâu hơn trên nhiều thiết bị, giúp tối ưu hóa độ chính xác và hiệu quả nghiên cứu.

Tại sao công nghệ này lại quan trọng?

Trong lĩnh vực phân tích hạt, các quy trình liên kết kết hợp ngày càng đóng vai trò trọng yếu bởi không một kỹ thuật riêng lẻ nào có thể cung cấp đầy đủ mọi thông tin cần thiết. Việc liên kết khả năng tìm kiếm hạt diện rộng tốc độ cao với các phép phân tích chuyên sâu đa thiết bị giúp các nhà nghiên cứu hiểu sâu sắc, toàn diện hơn về các đặc tính của hạt (bao gồm hình thái học, pha cấu trúc, tính chất hóa học, dữ liệu đồng vị) và tạo ra các bộ dữ liệu có độ tin cậy vượt trội.

Những giá trị bạn sẽ nhận được sau Webinar:

• Hiểu được cách các quy trình kết hợp hỗ trợ mô tả đặc tính hạt một cách toàn diện hơn.
• Nắm giữ phương pháp định vị và tìm lại chính xác cùng một hạt mẫu trên nhiều thiết bị đo lường khác nhau.
• Biết cách các giải pháp Khoáng vật học tự động, FIB-SEM, ToF-SIMS và LG-SIMS bổ trợ lẫn nhau để tối ưu hóa hiệu suất dữ liệu.
• Học cách liên kết quá trình tìm kiếm hạt hiệu suất cao (high-throughput) với các phép phân tích mục tiêu chuyên sâu.

Webinar dành cho ai?

• Các nhà địa chất học (Geoscientists) đang làm việc với các mẫu hạt và cấu trúc khoáng vật phức tạp.
• Các nhà nghiên cứu trong ngành khoa học môi trường và khoa học hạt nhân chuyên phân tích hạt kích thước micromet.
• Các chuyên gia về kỹ thuật vi phân tích như LA-ICP-MS, EPMA và SIMS.
• Người dùng kính hiển vi điện tử quét (SEM) và hệ thống FIB-SEM muốn tìm hiểu sâu về quy trình làm việc liên kết phối hợp (correlative workflows).
• Các nhà khoa học tìm kiếm giải pháp định vị vùng quan tâm chính xác cao và phân tích chéo mẫu trên đa thiết bị.

Đăng ký nhận Recorded Webinar tại đây