TESCAN AMBER X 2: Định nghĩa lại tốc độ và độ chính xác trong Plasma FIB-SEM

Trong nghiên cứu khoa học vật liệu, việc cân bằng giữa tốc độ xử lý mẫu và độ chính xác ở cấp độ nano luôn là một thách thức lớn. TESCAN AMBER X 2 ra đời như một giải pháp toàn diện, kết hợp giữa cột ion Plasma Mistral™ mạnh mẽ và cột điện tử BrightBeam™ không từ trường (field-free), giúp tái định nghĩa tiêu chuẩn về hiệu suất và tính ứng dụng trong phân tích vật liệu.

1. Chuẩn bị mẫu TEM chất lượng cao, không nhiễm Gallium

Một trong những ưu điểm vượt trội của AMBER X 2 là khả năng chuẩn bị các lá mẫu (lamella) TEM với chất lượng hoàn hảo.

• Zero Ga-contamination: Nhờ sử dụng nguồn Plasma thay vì ion Gallium truyền thống, hệ thống đảm bảo mẫu không bị nhiễm ion kim loại và giảm thiểu tối đa hư hỏng lớp vô định hình (amorphization damage).

• Tự động hóa thông minh: Phần mềm TEM AutoPrep Pro™ giúp hợp lý hóa quy trình từ khâu chọn vùng quan tâm, xác định hình học mẫu cho đến giám sát quá trình phay cắt trong thời gian thực, giúp tiết kiệm đáng kể thời gian và công sức.

2. Công nghệ SEM BrightBeam™: Hình ảnh sắc nét trên mọi loại mẫu

Hệ thống SEM của AMBER X 2 sử dụng công nghệ field-free BrightBeam™ kết hợp với bộ lọc năng lượng (Energy Filtering), mang lại khả năng quan sát vượt trội.

• Khả năng tương thích tuyệt vời: Hệ thống có thể xử lý mọi loại mẫu, từ các vật liệu nhạy cảm với chùm ion Ga+ đến các vật liệu không tương thích với từ trường.

• Độ phân giải ở năng lượng thấp: Việc sử dụng landing energies thấp giúp thu được hình ảnh cực kỳ rõ nét với mức độ hư hại mẫu tối thiểu, lý tưởng cho cả kim loại, gốm sứ, polymer và vật liệu sinh học.

3. Khám phá bí mật vật liệu qua phân tích 3D đa phương thức

AMBER X 2 không chỉ dừng lại ở phân tích bề mặt mà còn mở ra cánh cửa tiến vào thế giới 3D của vật liệu.

• Phân tích toàn diện: Hệ thống cho phép kết hợp dữ liệu từ 3D ToF-SIMS, 3D EBSD và 3D EDS để tiết lộ các thông tin ẩn về hình thái, thành phần hóa học và cấu trúc tinh thể của mẫu,.

• Tốc độ xử lý cao: Với cột ion Plasma, quá trình đặc trưng hóa vật liệu cả trên bề mặt và bên dưới bề mặt đạt được mức năng suất (throughput) cao nhất từ trước đến nay.

Multimodal 3D characterization of materials

4. Hệ thống linh hoạt, sẵn sàng cho tương lai

Thiết kế của AMBER X 2 tập trung vào người dùng và sự phát triển lâu dài của nghiên cứu:

• Thân thiện với người dùng: Bạn không cần phải là một chuyên gia về FIB-SEM để thu được dữ liệu chất lượng cao.

• Thiết kế mô-đun: Hệ thống cho phép tùy chỉnh và nâng cấp theo nhu cầu nghiên cứu cụ thể, đảm bảo thiết bị luôn tiến hóa cùng với các dự án nghiên cứu của bạn.