Webinar đặc biệt dành cho giới phân tích lỗi trong ngành bán dẫn!

• Bạn đang muốn nâng tầm khả năng phân tích lỗi trong lĩnh vực bán dẫn?
• Đừng bỏ lỡ cơ hội tham gia buổi webinar hấp dẫn này, nơi giới thiệu giải pháp tích hợp AFM-in-SEM LiteScope – công cụ tiên tiến giúp phân tích điện và hình thái bề mặt (topography) của linh kiện bán dẫn ngay trong buồng hiển vi, với độ phân giải cực cao ở cấp độ nano.

Diễn giả: Ms Veronika Hegrová (Application manager at NenoVision)

Tham gia webinar, bạn sẽ khám phá cách để:

• Loại bỏ hoàn toàn bước chuyển mẫu nhờ quy trình làm việc tích hợp giữa SEM, FIB và AFM – tất cả đều in-situ.
• Tối ưu hóa quy trình chẩn đoán lỗi linh kiện ở cấp độ nano, giúp rút ngắn đáng kể thời gian R&D.
• Ứng dụng LiteScope vào các trường hợp thực tế như: đo cấu hình pha tạp trong transistor MOSFET, lập bản đồ độ dẫn điện trong các cấu trúc bán dẫn phức tạp.

Webinar phù hợp cho các kỹ sư, nhà nghiên cứu, và chuyên gia trong lĩnh vực bán dẫn tại Việt Nam.

Nhanh tay đăng ký để không bỏ lỡ xu hướng mới trong phân tích lỗi bán dẫn