LYRA tại Đại học Curtin (Úc) là hệ thống tích hợp Kính hiển vi điện tử quét Phát xạ trường Schottky FESEM có độ phân giải cao với cột Chùm ion hội tụ FIB. Hệ thống này thuộc thế hệ thứ ba và được phát triển bền vững qua nhiều năm với các bản nâng cấp cho phép người dùng tiếp cận với các công nghệ mới nhất như cải tiến điện tử hiệu năng cao để thu được hình ảnh nhanh hơn, quét cực nhanh với khả năng bù quang sai phạm vi tĩnh và động. 

Chúng ta đang sống trong thời đại của sự di động; con người ngày càng ít sử dụng dây điện để cấp nguồn cho các thiết bị nói chung và thiết bị điện tử tiêu dùng nói riêng (máy tính xách tay, điện thoại di động, bàn chải đánh răng, đèn pin, v.v.). Chúng ta cũng đang sống trong thời đại 'di động điện tử' và điện khí hóa. Xe điện (Electric vehicles - EVs) là phương tiện di chuyển thay thế rất được mong đợi cho một tương lai xanh và nói không với khí thải.

Các chuyên gia của Đại học Cranfield đã thiết kế huy hiệu Hoàng gia (Cypher) thu nhỏ theo mẫu huy hiệu Hoàng gia chính thức để chào mừng Lễ đăng quang của Vua Charles III. Vật kỷ niệm này có các chi tiết rất nhỏ và người ta cần Kính hiển vi TESCAN S8000 để có thể quan sát chúng. Vật kỷ niệm có hình ảnh các chữ cái siêu nhỏ lồng vào nhau là mã ký hiệu của Vua Charles III và Nữ hoàng Camilla, mỗi chữ cái chỉ bằng một phần nhỏ của chiều rộng sợi tóc. Dòng chữ bên dưới có nội dung “Westminster Abbey 6th May 2023”

TESCAN, nhà sản xuất thiết bị khoa học hàng đầu, được tạp chí Microscopy Today đăng một bài viết nổi bật về TENSOR . TESCAN TENSOR là một Kính hiển vi điện tử truyền quét 4D-STEM chuyên dụng đầu tiên trên thế giới, cung cấp khả năng sử dụng và hiệu suất vượt trội dùng để nghiên cứu đặc tính của vật liệu, màng mỏng, tinh thể ... được chế tạo ở thang nano. Tại mỗi pixel trong bộ dữ liệu, TENSOR nhanh chóng thu được nhiễu xạ và phổ tán sắc năng lượng (EDS). Dữ liệu nhiễu xạ và phổ EDS tạo nên một bức tranh đầy đủ về các tương tác giữa chùm tia điện tử và mẫu, từ đó có thể cung cấp cho nhà nghiên cứu một loạt các tính chất của vật liệu. 

Rất lâu trước khi thành lập Tescan, Jaroslav Klima đã bị thu hút bởi Kính hiển vi điện tử. Lần đầu tiên Klima biết đến Kính hiển vi điện tử là khi ông đọc bài báo của Armin Delong - Cha đẻ Kính hiển vi điện tử ở Cộng hòa Séc. Delong đã nói về cách Tiệp Khắc sản xuất Kính hiển vi điện tử đẳng cấp thế giới để xuất khẩu và điều này đã gây ấn tượng mạnh mẽ với Klima. Ông nói: “Lúc đó là cuối những năm 1950, Kính hiển vi điện tử là một trong số ít các cơ hội mà đất nước chúng tôi có thể xuất khẩu. Khi tôi theo học ngành điện tử tại Đại học Công nghệ Brno, tôi vẫn tin rằng cuối cùng mình sẽ làm việc với Kính hiển vi điện tử.”

Synthon, công ty dược phẩm đa quốc gia của Hà Lan, lấy nghiên cứu khoa học làm trung tâm, chuyên phát triển, sản xuất và cấp phép các phức hợp thuốc chất lượng cao đã lựa chọn TESCAN ORSAY HOLDING là nhà cung cấp và lắp đặt Kính hiển vi điện tử quét (SEM) TESCAN VEGA để phân tích tại cơ sở R&D và sản xuất dược phẩm của mình ở Cộng hòa Séc

Pin Li-ion là nguồn năng lượng của nhiều thiết bị điện tử được sử dụng trong cuộc sống hàng ngày. Việc quan sát và nghiên cứu cấu trúc bên trong của các điện cực pin rất quan trọng do những thay đổi của cấu trúc này ảnh hưởng đáng kể đến hiệu suất cũng như chất lượng của pin Li-ion.

Tuy nhiên những loại pin Li-ion này có chất kết dính polyme là những cấu trúc nhạy với chùm tia, dễ dàng bị hỏng khi được quét bằng chùm điện tử có năng lượng cao dẫn đến việc chụp ảnh SEM của các mẫu trở nên rất khó khăn. Một giải pháp lý tưởng có thể giải quyết được bài toán này hệ thống FIB-SEM AMBER do TESCAN cung cấp với cột BrightBeam™ có khả năng chụp ảnh với độ phân giải siêu cao và được trang bị một hệ thống đầu dò mạnh mẽ. 

Phân tích lớp sơn lớp phủ có thể thực hiện bởi Kính hiển vi điện tử quét (SEM) TESCAN cùng với EDS, giúp chúng ta thu được độ phóng đại rất cao – lên tới 1 triệu lần. Tuy nhiên, việc phân tích lỗi lớp phủ bằng SEM thường chỉ sử dụng độ phóng đại lên tới 10.000X và một số mức phóng đại thấp hơn có thể đạt được bằng kính hiển vi quang học. SEM có một số tính năng hữu ích khác mà kính hiển vi quang học không thể thực hiện. Một trong những tính năng đó là độ sâu ảnh lớn (Depth of Focus) cho phép chụp ảnh bề mặt nét (không bị nhòe) ở những nơi có độ mấp mô lớn. Hình ảnh bề mặt của một miếng thép thu được bằng SEM được cung cấp như Hình 1 đến Hình 6 dưới đây theo thứ tự tăng dần độ phóng đại. Lớp phủ trên thép đã được loại bỏ bằng cách sử dụng chất làm bong sơn hóa học để lộ bề mặt thép bên dưới để kiểm tra. Độ sâu ảnh và toàn bộ hình ảnh có thể được lấy nét đồng thời, dù ở độ phóng đại thấp hay cao. Độ rõ nét của hình ảnh vượt xa những gì có thể đạt được bằng kính hiển vi quang học.