Pin Lithium-ion (Li-ion) là một kỳ vọng lớn cho tương lai của ngành công nghệ pin bởi tiềm năng to lớn về mật độ năng lượng cao và chu kỳ sử dụng lâu dài. Tuy nhiên, sự xuống cấp của pin Li-ion theo thời gian sử dụng là một trong những thách thức của pin Li-ion. Để kiểm soát sự xuống cấp và kéo dài tuổi thọ pin, các nhà khoa học cần tìm ra nguyên nhân ngay từ đầu để hạn chế và khắc phục. Trong một bài báo đăng trên tạp chí Energy & Environmental Materials, Đại học Surrey, TESCAN cùng với Phòng thí nghiệm Oak Ridge National đã đưa ra một một kỹ thuật mới được sử dụng để dự đoán và theo dõi sự xuống cấp của pin Li-ion.

Tiếng Việt
日本語 (Japan)
한국어 (Korean)
中文 (Chinese)
English (UK)

