TESCAN VEGA COMPACT là kính hiển vi điện tử quét phân tích phổ thông (entry-level analytical SEM) mạnh mẽ, được thiết kế cho đặc trưng vật liệu định kỳ, kiểm soát chất lượng, phân tích lỗi và nghiên cứu ở thang micromet. Với nguồn electron tungsten, hệ quang học không khẩu độ sử dụng Intermediate Lens™ được hỗ trợ bởi In-Flight Beam Tracing™, Wide Field Optics™ cho ảnh tổng quan SEM trực tiếp và Essence™ EDS tích hợp hoàn toàn, VEGA COMPACT hợp nhất chụp ảnh và phân tích nguyên tố trong cùng một cửa sổ phần mềm để rút ngắn thời gian thu dữ liệu.

Tiếng Việt
日本語 (Japan)
한국어 (Korean)
中文 (Chinese)
English (UK)