Webinars

Bật mí "Kính hiển vi TEM điện áp thấp" cho các lát mỏng sinh học

Bật mí "Kính hiển vi TEM điện áp thấp" cho các lát mỏng sinh học

Với 15 năm kinh nghiệm trong nghiên cứu vật liệu và công nghệ nano, TS. Daniela Vieira chuyên sâu về đặc tính của vật liệu nano và mẫu sinh học bằng các kỹ thuật tiên tiến (TEM, SEM, STEM, EDS, công cụ điện hóa, FTIR, v.v.) sẽ chia sẻ đến khách hàng quan tâm đến TEM.

Chủ đề lần này là về “Kính hiển vi điện tử điện áp thấp cho các lát mỏng sinh học” là một giải pháp thay thế mang tính cách mạng cho kính hiển vi điện tử truyền qua điện áp cao (HV-TEM) cho các ứng dụng sinh học, không chỉ cung cấp hình ảnh chất lượng cao mà còn là một công cụ đơn giản và giá cả phải chăng hơn để hỗ trợ các nhà nghiên cứu và nhà bệnh lý học trên toàn thế giới.

TS. Daniela Vieira (Delong) sẽ giới thiệu những ưu điểm của LVEM để chụp ảnh các lát mỏng và thu được các cấu trúc tế bào chi tiết.

 

Trong khoảng 50 năm qua, tiêu chuẩn vàng trong phân tích TEM dựa vào HV-TEM kết hợp với nhuộm kim loại nặng. Mặc dù phương pháp này cung cấp hình ảnh chất lượng cao, nhưng nó đi kèm với những nhược điểm lớn: chuẩn bị mẫu phức tạp, cần nhuộm, năng lượng chùm tia cao có thể làm hỏng mẫu và thiết bị đắt tiền.

Kính hiển vi LVEM của Delong Instruments giải quyết những vấn đề này bằng thiết kế nhỏ gọn, giá cả phải chăng, cung cấp hình ảnh có độ tương phản cao hơn—không cần nhuộm đến nhuộm ít kim loại nặng.

webinar-tescan-mira-xr

SEM độ phân giải siêu cao (UHR) - TESCAN MIRA XR

Chủ đề: From Routine to Remarkable: Meet TESCAN MIRA XR
Diễn giả: Tomas Boruvka (TESCAN)
Trạng thái: Đã diễn ra (có Recorded Video)

* MIRA rất quen thuộc với khách hàng tên toàn thế giới, thể hiện sự ổn định trong hơn 20 năm nay.
* Giờ đây, khi kết hợp với Công nghệ BrightBeam, MIRA trở thành MIRA XR, một SEM siêu phân giải với cách sử dụng vô cùng dễ dàng ở "phân giải nanomet" và hỗ trợ Low kV Scanning.

TESCAN Micro CT động và In-Situ

Khám phá chiều thứ 4 của đặc tính vật liệu, khi nghiên cứu bằng TESCAN Micro CT động và In-Situ

TESCAN đang mở rộng ranh giới của đặc tính vật liệu bằng hình ảnh micro-CT động. Bằng cách ghi lại quá trình biến đổi của vật liệu theo thời gian thực, chúng tôi cho phép các nhà nghiên cứu có được hiểu biết sâu sắc hơn về hành vi của vật liệu trong nhiều điều kiện khác nhau. Những tiến bộ trong hình ảnh micro-CT đã cho phép các nhà khoa học hiểu và quan sát quá trình di chuyển chất lỏng trong các vật liệu địa chất phức tạp như đất và hồ chứa. Đặc biệt, các hệ thống micro-CT động TESCAN đã cung cấp những hiểu biết mới về thế giới bên dưới bề mặt bằng cách đưa hình ảnh pore-scale theo thời gian thực từ máy gia tốc synchrotron vào phòng thí nghiệm.
Diễn giả: Tiến sĩ. Marijn Boone (Product Marketing Manager for micro-CT at TESCAN Group)

APT với TESCAN FIB-SEM

Chuẩn bị mẫu cho Chụp cắt lớp đầu dò nguyên tử APT với TESCAN FIB-SEM

Tham gia hội thảo trực tuyến sắp tới của chúng tôi để khám phá cách công nghệ Kính hiển vi điện tử quét chùm ion hội tụ (FIB-SEM) của TESCAN cải thiện việc chuẩn bị mẫu bằng phương pháp Chụp cắt lớp đầu dò nguyên tử (APT).

Đối với các nhà khoa học và nhà nghiên cứu tập trung vào phân tích vật liệu ở quy mô nguyên tử, việc nắm vững những phức tạp của việc chuẩn bị mẫu APT là điều cần thiết. Trong phiên trực tuyến này hợp tác với Cameca Instruments, bạn sẽ tìm hiểu cách hệ thống FIB-SEM của TESCAN cho phép chuẩn bị chính xác với mức độ hư hỏng mẫu tối thiểu, điều cần thiết để đạt được kết quả chính xác và đáng tin cậy trong phân tích APT.

Trạng thái: Đã diễn ra - Đăng ký xem bản Recorded Video

5 ứng dụng trên Máy đo 5 trục, tiếp cận vùng khó đo, và đo tự động

5 ứng dụng trên Máy đo 5 trục, tiếp cận vùng khó đo, và đo tự động

  • Quý bạn đang sử dụng Máy đo 3D CMM, hoặc/và Máy đo quang học để kiểm tra/kiểm soát chất lượng sản phẩm (QC/QA/KCS)?
  • Quý bạn gặp nhiều khó khăn trong việc tiếp cận vùng cần đo phức tạp, nơi có nhiều thông số quan trọng cần đo?
  • Hãy để chúng tôi giúp bạn bằng Máy FocusXBộ Real3DUnitX độc đáo khác biệt, "một click" vào file CAD 3D là đủ.

Thời gian Webinar: đã diễn ra (Đăng ký xem lại recorded video)

Kính hiển vi điện tử FIB-SEM

Tiết lộ Giải pháp Kính hiển vi FIB-SEM trong phân tích lỗi (FA) và R&D ngành Bán dẫn

Thu nhỏ kích thước, tăng năng lực tích hợp, tăng tính hiệu quả cho các thiết bị/linh kiện bán dẫn,... đã không ngừng được thúc đẩy trong thiết kế và sản xuất trong ngành bán dẫn. Do đó, những thách thức mà các nhà nghiên cứu và kỹ sư phải đối mặt trong phân tích lỗi (FA) và chuẩn bị mẫu phức tạp hơn bao giờ hết.

Đối với các chuyên gia làm việc trong lĩnh vực này, việc có các công cụ đáng tin cậy và hiệu quả để chuẩn bị và phân tích mẫu là rất quan trọng. Đây là lý do tại sao chúng tôi mời bạn tham gia hội thảo của chúng tôi để khám phá bộ giải pháp FIB-SEM của chúng tôi, được thiết kế dành riêng cho các phòng thí nghiệm FA và R&D bán dẫn.

Trong phiên trực tuyến này, chúng tôi sẽ trình bày về vai trò của các hệ thống này trong quy trình chuẩn bị mẫu, đồng thời nêu bật độ chính xác, tự động hóa và dễ sử dụng có thể thúc đẩy năng suất của phòng thí nghiệm của bạn.

Diễn giả: Mr. Lukáš Hladík, Product Marketing Manager (FIB-SEM) - TESCAN
Trạng thái: Đã có bản Recorded Video

FocusX One Click Roughness - Răng cấy ghép

Đo kiểm chính xác 4 bộ phận/thiết bị Y tế quan trọng và dễ dàng đạt tất cả các quy định

Công nghệ thiết bị y tế đang phát triển nhanh chóng - và cùng với đó là các quy định mà các công ty sản xuất phải tuân thủ: ISO 13485, FDA 21 CFR Part 820 và EU MDR là những rào cản lớn nhất trong việc đảm bảo chất lượng. Sai sót trong việc đo kiểm các bộ phận/thiết bị y tế hoặc không tuân thủ các tiêu chuẩn có thể gây ra hậu quả nghiêm trọng.

Trong sự kiện trực tuyến của chúng tôi, chúng tôi sẽ không chỉ giới thiệu đến bạn Công nghệ đo lường phù hợp cho các thiết bị y tế của bạn mà còn nêu bật những điểm quan trọng nhất của các tiêu chuẩn dành cho thiết bị y tế.

Diễn giả: Mr. Lukas Poelzelbauer & Mr. Florian Schwimmer (Bruker Alicona)
Trạng thái: Recorded Video

Khám phá Tự động hóa SEM và FIB-SEM mà không cần mã hóa

Khám phá Tự động hóa SEM và FIB-SEM mà không cần kỹ năng lập trình

Khám phá cách phần mềm SEM/FIB-SEM Expert PI của TESCAN mang lại hiệu quả mới cho các tác vụ hàng ngày của người dùng thông qua tính năng tự động hóa thực tế, thân thiện với người dùng.

Diễn giả: Milos Hrabovsky (Product Marketing Manager tại TESCAN Group)
Trạng thái: Đã có bản Recorded Video

Chuỗi Webinar sự kiện ra mắt sản phẩm mới của TESCAN FIB-SEM: AMBER 2 và AMBER X 2

Chuỗi Webinar sự kiện ra mắt sản phẩm mới của TESCAN FIB-SEM: AMBER 2 và AMBER X 2

TESCAN là nhà tiên phong hàng đầu trong lĩnh vực PFIB trong hơn một thập kỷ qua. Cam kết không ngừng trong việc thúc đẩy công nghệ của TESCAN đã dẫn đến sự ra mắt của AMBER 2AMBER X 2 - những bước đột phá mới nhất trong công nghệ FIB-SEM. Các hệ thống này mang đến những cải tiến đáng kể về tốc độ, độ chính xác và tính tiện ích cho việc phân tích vật liệu và chuẩn bị mẫu TEM.

hotline