Webinar

Phân tích đá phiến bằng Xe Plasma FIB-SEM với kích thước lớn: Độ phân giải nanomet trên từng milimet đá

Phân tích đá phiến bằng Xe Plasma FIB-SEM với kích thước lớn: Độ phân giải nanomet trên từng milimet đá

Diễn giả: Annalena Wolff (AXT Pty Ltd, Sydney, AUT)

Trạng thái: Đã diễn ra, đang nhận đăng ký xem bản Recorded Video

Tự động tách lớp diện tích lớn bằng Plasma FIB-SEM và đầu đo nano để nghiên cứu in-situ trên các thiết bị bán dẫn hiện đại nhất

Tự động tách lớp diện tích lớn bằng Plasma FIB-SEM và đầu đo nano để nghiên cứu in-situ trên các thiết bị bán dẫn hiện đại nhất

Hội thảo trực tuyến lần này được tổ chức bởi TESCAN Group Imina Technologies, với nội dung đi sâu vào các phương pháp cải tiến để tách lớp diện tích lớn một cách tự động bằng Plasma FIB-SEM và đầu đo nano (Nanoprobing) để nghiên cứu in-situ trên các thiết bị bán dẫn tiên tiến

Diễn giả:
Lukas Hladik, Ph.D., Product Marketing Manager (TESCAN Group)
Guillaume Boetsch, Co-founder of Imina Technologies

Trạng thái: Đã diễn ra, đang nhận đăng ký bản Recorded Video

Nghiên cứu đặc tính mẫu với thông lượng tối đa bằng cách sử dụng Plasma FIB-SEM để đánh bóng bề mặt mẫu không tỳ vết

Nghiên cứu đặc tính mẫu với thông lượng tối đa bằng cách sử dụng Plasma FIB-SEM để đánh bóng bề mặt mẫu không tỳ vết

Diễn giả: Martin Sláma (Product Marketing Manager tại TESCAN GROUP)
Trạng thái: Đã diễn ra - Bạn có thể đăng ký xem bản Recorded Video

Nghiên cứu dòng chất lỏng trong vật liệu địa chất bằng Dynamic Micro-CT

Nghiên cứu dòng chất lỏng trong vật liệu địa chất bằng Dynamic Micro-CT

Diễn giả: Marijn Boone, PhD. (Product Marketing Manager tại TESCAN GROUP)

Trạng thái: Đã diễn ra - Bạn có thể xem Recorded Video

Nghiên cứu đặc tính vật liệu đa phương thức bằng TESCAN Plasma FIB-SEM

Nghiên cứu đặc tính vật liệu đa phương thức bằng TESCAN Plasma FIB-SEM

Diễn giả: Dr. Dean Miller (TESCAN USA) - (Ngôn ngữ: Tiếng Anh)

Trạng thái: Đã diễn ra - Bạn có thể xem Recorded Video

Semiconductor - Phân tích lỗi ở thang mm bằng kết hợp của Plasma FIB-SEM, kỹ thuật Laser và công cụ tiên tiến

Diễn giả: Lukas Hladik, Ph.D., Product Marketing Manager (TESCAN Group)
(Đã diễn ra, bạn có thể đăng ký để xem lại video)

Nghiên cứu toàn diện Vật liệu pin Lithium-ion bằng TESCAN FIB-SEM tích hợp TOF-SIMS

Nghiên cứu toàn diện Vật liệu pin Lithium-ion bằng TESCAN FIB-SEM tích hợp TOF-SIMS

Diễn giả: Tiến sĩ Tomáš Šamořil - Product Marketing Manager tại TESCAN GROUP

* Bạn đang có đam mê nghiên cứu, phát triển những công nghệ pin, và quan tâm vai trò của chúng đối đến tương lai cuộc sống của chúng ta?

Nếu có, hãy đăng ký xem một recorded video đặc biệt này của chúng tôi