Chuỗi Webinar sự kiện ra mắt sản phẩm mới của TESCAN FIB-SEM: AMBER 2 và AMBER X 2

TESCAN là nhà tiên phong hàng đầu trong lĩnh vực PFIB trong hơn một thập kỷ qua. Cam kết không ngừng trong việc thúc đẩy công nghệ của TESCAN đã dẫn đến sự ra mắt của AMBER 2 và AMBER X 2 - những bước đột phá mới nhất trong công nghệ FIB-SEM. Các hệ thống này mang đến những cải tiến đáng kể về tốc độ, độ chính xác và tính tiện ích cho việc phân tích vật liệu và chuẩn bị mẫu TEM.

Các tính năng chính của TESCAN AMBER 2

Tự động hóa nâng cao: Quá trình vận hành được tối ưu hóa thông qua các chức năng tự động hóa toàn diện, giảm thiểu sự can thiệp của người dùng và tăng hiệu suất.
Giao diện thân thiện với người dùng: Thiết kế trực quan hỗ trợ cả người dùng mới bắt đầu và chuyên gia.
Hoạt động qua đêm: Thực hiện các tác vụ tự động qua đêm, tăng năng suất phòng thí nghiệm.
Chuẩn bị mẫu chính xác cao: Duy trì độ phân giải cao và độ chính xác trong việc chuẩn bị và chụp ảnh mẫu.
Tối ưu hóa quy trình tạo mẫu: Mở rộng khả năng cho các kỹ thuật tạo mẫu.

Các tính năng chính của TESCAN AMBER X 2

Cột FIB Plasma nâng cao: AMBER X 2 tối ưu hóa các thông số chùm tia để có cấu hình vượt trội, đơn giản hóa quy trình làm việc và cải thiện độ phân giải, điều hướng và hiệu suất milling.
Field-Free SEM Column: Tính năng này cho phép chụp ảnh với độ phân giải cao của nhiều loại vật liệu, loại bỏ những hạn chế của thấu khính nhúng với trường quan sát rộng và nhiều chế độ quét đa dạng.
Phân tích đa phương thức và đa thang đo: AMBER X 2 hỗ trợ các phương pháp 3D độc đáo như 3D ToF-SIMS thời gian thực, cung cấp thông tin chi tiết về thành phần nguyên tố, đặc biệt quan trọng trong nghiên cứu pin thế hệ tiếp theo.

Đây sẽ là một chuỗi Webinar để giới thiệu khả năng của AMBER 2 và AMBER X 2 của TESCAN. Nội dung Webinar cung cấp tổng quan, toàn diện về cách mà các sản phẩm tiên tiến này có thể nâng cao quy trình nghiên cứu và phát triển vật liệu.

#Webinar 1

Tiêu đề: Giới thiệu AMBER 2 và AMBER X 2: Hệ thống FIB-SEM thế hệ mới với những cải tiến về tốc độ, tiện ích và độ chính xác
Diễn giả: Martin Sláma (TESCAN Group)

Thời gian:
Phiên 1: 14:00 giờ, Thứ 3, ngày 20/08/2024
Phiên 2: 22:00 giờ, Thứ 3, ngày 20/08/2024

Trạng thái: Đã có bản recorded của phiên này.

Hãy cùng chứng kiến sự đổi mới của TESCAN với sự ra mắt của AMBER 2 và AMBER X 2. Hội thảo trực tuyến này bao gồm những nội dung nổi bật:

Một thập kỷ đổi mới FIB-SEM: Hành trình phát triển FIB-SEM của TESCAN.
Sức mạnh của Mistral™ Plasma FIB: Cách AMBER X 2 kết nối giữa độ chính xác và năng suất.
Ứng dụng thực tế: Tính linh hoạt và hiệu quả của AMBER 2 và AMBER X 2 trong các ứng dụng nghiên cứu khác nhau.

Diễn giả: Martin Sláma, Product Marketing Manager tại TESCAN, với hơn 8 năm kinh nghiệm trong 3D FIB-SEM và chuẩn bị mẫu TEM cho khoa học vật liệu.

#Webinar 2

Tiêu đề: Định nghĩa lại FIB-SEM: Trải nghiệm tốc độ, tiện ích và độ chính xác trong việc phân tích 3D đa phương thức với PFIB AMBER X 2
Diễn giả: TS. Tomáš Šamořil (TESCAN Group)

Thời gian:
Phiên 1: 14:00 giờ, Thứ 5, ngày 22/08/2024
Phiên 2: 22:00 giờ, Thứ 5, ngày 22/08/2024

Trạng thái: Đã có bản recorded của phiên này.

Kính hiển vi điện tử quét chùm ion hội tụ Plasma (PFIB) AMBER X 2 sẽ là thủ lĩnh trong kỹ thuật phân tích vật liệu 3D đa phương thức. Webinar này sẽ khám phá:

Tốc độ và độ chính xác: Hiểu được cách AMBER X 2 cân bằng giữa chất lượng và khối lượng dữ liệu
Tối ưu hóa chụp cắt lớp bằng FIB-SEM: Chiến lược phân tích nhanh với ít artifact trên bề mặt
Ứng dụng thực tiễn: Sử dụng AMBER X 2 trong nghiên cứu các vật liệu khác nhau

Diễn giả: Tomáš Šamořil, Product Marketing Manager tại TESCAN, với nền tảng là Tiến sĩ về Kỹ thuật Vật liệu và Vật lý cùng với kinh nghiệm sâu rộng như một Chuyên gia Ứng dụng.

#Webinar 3

Tiêu đề: Thế hệ mới của Hệ thống chuẩn bị mẫu TEM tự động hóa TESCAN AutoPrep Pro™: Nâng cao Hiệu suất và Tiện ích trong Quá trình Chuẩn bị Mẫu với AMBER 2 và AMBER X 2
Diễn giả: Martin Sláma (TESCAN Group)

Thời gian:
Phiên 1: 14:00 giờ, Thứ 3, ngày 03/09/2024
Phiên 2: 22:00 giờ, Thứ 3, ngày 03/09/2024

Trạng thái: Đang nhận đăng ký bản Recorded Video

Khám phá tương lai của quá trình chuẩn bị mẫu cho kính hiển vi điện tử truyền qua (TEM) với hệ thống AMBER 2 và AMBER X 2 của TESCAN. Webinar này tập trung vào:

Chuẩn bị mẫu TEM thông lượng cao: Đáp ứng nhu cầu về tốc độ và tính nhất quán trong quá trình chuẩn bị mẫu.
Quy trình làm việc tự động hóa: Hệ thống TEM AutoPrep Pro™ tích hợp với AMBER X 2.
Cắt mẫu chính xác: Khả năng của hệ thống thao tác nano OptiLift™ trên AMBER X 2.

Diễn giả: Martin Sláma, Product Marketing Manager tại TESCAN, với hơn 8 năm kinh nghiệm trong 3D FIB-SEM và chuẩn bị mẫu TEM cho khoa học vật liệu.

#Webinar 4

Tiêu đề: Tăng cường hiệu suất và độ chính xác trong việc tạo mẫu nano với TESCAN AMBER 2: Giải pháp tiên phong cho phát triển thiết bị mới
Diễn giả: Milos Hrabovsky (TESCAN Group)

Thời gian:
Phiên 1: 14:00 giờ, Thứ 5, ngày 05/09/2024
Phiên 2: 22:00 giờ, Thứ 5, ngày 05/09/2024

Trạng thái: Đang nhận đăng ký

Khám phá tiềm năng phát triển thiết bị nhanh chóng với hệ thống TESCAN AMBER 2. Webinar này sẽ đi sâu vào:

Tối ưu hóa quy trình làm việc: Cách thiết kế của AMBER 2 giảm thiểu thời gian chết và tăng cường tính hiệu quả.
Khả năng chuẩn bị mẫu đa dạng: Khả năng của AMBER 2 trong thực hiện các nhiệm vụ tạo mẫu nano khác nhau.
Phân tích toàn diện: Thông tin chi tiết về khả năng tạo ảnh độ phân giải siêu cao (UHR) của AMBER 2.

Diễn giả: Milos Hrabovsky, Product Marketing Manager cho Nanoprototyping tại TESCAN, chuyên gia về gia công chùm electron và ion, lắng đọng, khắc nâng cao, và tự động hóa kính hiển vi thông qua lập trình.

Webinar