Công nghệ Vertical Focus Probing là gì?

Ở đây, chúng tôi sẽ tập trung vào một công nghệ làm thay đổi cuộc chơi thực sự, cho phép đo quang học theo vách thẳng đứng, ở lỗ hoặc độ nghiêng ≥ 90°, và do đó cho phép đo quang học trên toàn bộ bề mặt của một bộ phận. Hãy cùng tìm hiểu kỹ hơn về công nghệ Vertical Focus Probing.

Công nghệ Vertical Focus Probing đã được giải thích một cách dễ dàng

Hãy tưởng tượng bạn làm việc trong ngành công nghiệp ô tô và bạn muốn đo lỗ khoan của van điều tiết khí. Cho đến nay, hình học có sườn dốc không thể đo được bằng quang học. Nếu không có chức năng công nghệ Vertical Focus Probing, người dùng vẫn phải sử dụng các hệ thống đo lường chạm để đo các bộ phận có bề mặt thẳng đứng theo chiều ngang. Nhưng kể từ khi Công nghệ Vertical Focus Probing ra đời, việc đo quang học của các bộ phận trên toàn bộ bề mặt và cả các sườn dốc đã có thể thực hiện được. Vertical Focus Probing mang lại kết quả có độ chính xác cao, độ phân giải cao và thời gian đo ngắn. Do nguyên tắc đo dựa trên diện tích dẫn đến mật độ điểm đo cao nên có thể sử dụng một số lượng lớn các điểm đo để đánh giá, ví dụ, độ lệch hình dạng. Điều này giúp đo lường mạnh mẽ, đặc biệt là các hình học nhỏ.

Vertical Focus Probing là một công nghệ quang học dựa trên việc sử dụng một phần ánh sáng. Điều đó có nghĩa là không chỉ sử dụng ánh sáng đồng trục mà còn sử dụng ánh sáng từ các hướng khác nhau. Kết quả là các tia sáng riêng lẻ bị phản xạ khuếch tán từ các bề mặt thẳng đứng. Chúng được nhận lại một lần nữa bởi các vật kính của hệ thống đo lường, cho phép đo các góc dốc hơn 90° với độ phân giải cao. Vì vậy, có thể đo được hình học bên trong và các lỗ nhỏ trên vách đứng.

Ánh sáng phản xạ cũng có thể được vật kính phát hiện khi đo độ dốc lớn hơn 90°

Ứng dụng của công nghệ Vertical Focus Probing khá nhiều, bao gồm tất cả các lĩnh vực của ngành công nghiệp sản xuất và chế tạo, từ ngành chế tạo dụng cụ và sản xuất chính xác đến ngành công nghiệp ô tô và hàng không vũ trụ. Giờ đây, ngay cả các lỗ, lỗ khoan, bề mặt tham chiếu, đường viền hoặc chiều dài cũng có thể được đo bằng quang học.