Diễn giả: Dr. Dean Miller (TESCAN USA) - (Ngôn ngữ: Tiếng Anh)

Trạng thái: Đã diễn ra - Bạn có thể xem Recorded Video

Những nội dung được mong đợi trong Live Webinar:

• Tích hợp các kỹ thuật nghiên cứu đặc tính vật liệu: Kính hiển vi điện tử quét chùm ion hội tụ TESCAN Plasma FIB-SEM kết hợp với các đầu dò phân tích như EDS, WDS, EBSD, Raman và TOF-SIMS để phân tích vật liệu chuyên sâu.
• TESCAN Plasma FIB-SEM milling vật liệu ở diện tích lớn một cách hiệu quả: Nguồn Xe Plasma FIB dùng cho mục đích milling mẫu với diện tích lớn, công suất cao và rất lý tưởng để xử lý các mặt cắt ngang lên đến 1 mm.
• Giảm nguy cơ hư hỏng mẫu: Lợi thế chính của việc sử dụng Xe Plasma FIB-SEM là giảm thiểu việc gây hư hỏng cho vật liệu phân tích, đặc biệt là vật liệu nhạy với chùm tia.
• Chuẩn bị mẫu không bị nhiễm bẩn: Kỹ thuật Plasma FIB-SEM đảm bảo việc chuẩn bị mẫu sạch và không bị nhiễm bẩn, điều này rất cần thiết cho các vật liệu như Nhôm hay Pin Lithium-ion.
• Nghiên cứu 2D và 3D các đặc tính của vật liệu: TESCAN AMBER X được sử dụng để nghiên cứu chi tiết đặc tính 2D và 3D của vật liệu.

Vài hình ảnh chụp bởi TESCAN Plasma FIB-SEM

Diễn giả

Diễn giả của phiên trực tuyến sẽ là Tiến sĩ Dean Miller, Nhà khoa học chính tại TESCAN. Với nền tảng kiến thức phong phú về Khoa học Vật liệu và nhiều năm đi đầu trong kỹ thuật luyện kim, Tiến sĩ Miller mang đến kiến thức chuyên môn chưa từng có cho hội thảo trực tuyến này.

Bạn sẽ "bỏ túi" được những gì?

Những người tham gia sẽ có thêm sự hiểu biết vững chắc về cách sử dụng những công nghệ này một cách hiệu quả trong lĩnh vực của mình, cho dù là trong nghiên cứu hoa học hay R&D. Hội thảo nhằm mục đích nâng cao kiến thức kỹ thuật và kỹ năng thực tế của bạn về nghiên cứu đặc tính vật liệu hiện đại, giúp bạn đáp ứng và vượt qua những thách thức do vật liệu phức tạp đưa ra.

Chúng tôi trân trọng & nồng nhiệt kính mời quý anh chị và thầy cô đăng ký tham dự.

Vui lòng đăng ký xem Recorded Video theo Form dưới đây