2. Kính hiển vi điện tử quét chùm ion hội tụ FIB-SEM
  3. FIB-SEM cho khoa học vật liệu
  4. TESCAN AMBER X

TESCAN AMBER X - Kính hiển vi điện tử quét chùm ion hội tụ FIB-SEM

TESCAN AMBER X

+TESCAN AMBER X

Sự kết hợp độc đáo giữa Plasma FIB-SEM và UHR SEM cho khả năng nghiên cứu vật liệu ở nhiều thang kích thước khác nhau

  • Tốc độ lớn, xử lý FIB vùng mẫu lớn, lên tới 1mm
  • Chuẩn bị mẫu không bị nhiễm Ga
  • Phân tích và chụp ảnh FE-SEM độ phân giải siêu cao (UHR)
  • Tích hợp kèm đầu dò In-lens BSE và SE
  • Tối ưu hóa độ phân giải phù hợp tốc độ FIB cao
  • Trường quan sát rộng giúp dễ dàng điều hướng mẫu
  • Phần mềm Essence™ dễ dàng sử dụng với giao diện đồ họa
+1 mm cross-section through a Li-ion battery electrode

1 mm wide polished cross section of a Li-ion battery electrode

+Large-volume 3D EBSD analysis

EBSD map of a 90 µm diameter cold-drawn copper wire

+Ga-free APT sample preparation

Ga-free atom probe tip sample preparation using plasma FIB

Bạn cần thêm thông tin về TESCAN AMBER X?

Vui lòng liên hệ theo Form này

Vui lòng nhập trường này
Vui lòng nhập trường này
Vui lòng nhập trường này
Vui lòng nhập trường này