Sự kết hợp độc đáo giữa FIB SEM và UHR FE SEM cho khả năng nghiên cứu vật liệu ở nhiều thang kích thước khác nhau
- High throughput, large area FIB processing up to 1 mm
- Ga-free microsample preparation
- Ultra-high resolution, field-free FEG-SEM imaging and analysis
- In-lens SE and BSE detection
- Resolution optimization for high-throughput, multi-modal FIB-SEM tomography
- Superior field of view for easy navigation
- Essence™ easy-to-use, modular graphical user interface
1 mm cross-section through a Li-ion battery electrode
Large-volume 3D EBSD analysis
Ga-free APT sample preparation
Yêu cầu báo giá - SEM TESCAN
