Sự kết hợp độc đáo giữa FIB SEM và UHR FE SEM cho khả năng nghiên cứu vật liệu ở nhiều thang kích thước khác nhau

TESCAN AMBER X
  • High throughput, large area FIB processing up to 1 mm
  • Ga-free microsample preparation
  • Ultra-high resolution, field-free FEG-SEM imaging and analysis
  • In-lens SE and BSE detection
  • Resolution optimization for high-throughput, multi-modal FIB-SEM tomography
  • Superior field of view for easy navigation
  • Essence™ easy-to-use, modular graphical user interface

1 mm cross-section through a Li-ion battery electrode

Large-volume 3D EBSD analysis

Ga-free APT sample preparation

Yêu cầu báo giá - SEM TESCAN

hotline