Sự kết hợp độc đáo giữa FIB SEM Plasma và UHR FE-SEM để phân tích đặc tính vật liệu.

TESCAN AMBER X
  • Năng suất hoạt động cao và độ phóng đại lớn
  • Khả năng xử lý và phân tích mẫu với diện tích lớn, lên đến 1mm
  • Độ phân giải siêu cao với khả năng phân tích và thu nhận ảnh cho trường mẫu rộng của FE-SEM
  • Tích hợp đồng thời đầu dò BSESE cung cấp thêm nhiều thông tin về thành phần, cấu trúc,...
  • Tối ưu hóa độ phân giải cho năng suất cao, thực hiện chụp cắt lớp cho độ phân giải cao với đa phương thức
  • Thực hiện chuẩn bị mẫu không nhiễm Ga
  • Trường quan sát rộng giúp dễ dàng điều hướng mẫu
  • Phần mềm Essence™ dễ dàng sử dụng với giao diện đồ họa bắt mắt

1 mm wide polished cross section of a Li-ion battery electrode

EBSD map of a 90 µm diameter cold-drawn copper wire

Ga-free atom probe tip sample preparation using plasma FIB

Yêu cầu báo giá - SEM TESCAN

hotline