• Maksym Klymov - Trưởng phòng Ứng dụng, Tescan
  Maksym dẫn dắt đội ngũ Ứng dụng và Phòng thí nghiệm Demo của Tescan, hỗ trợ phát triển và ứng dụng thực tế các quy trình hiển vi điện tử tiên tiến. Với nền tảng nghiên cứu về kỹ thuật vật liệu và gia công chùm tia điện tử đối với các hợp kim phức tạp, anh mang đến góc nhìn thực tế về cách các điều kiện chuẩn bị mẫu ảnh hưởng đến vi cấu trúc và độ tin cậy của kết quả hiển vi cuối cùng.

• TS. Jan Roncak - Chuyên gia Ứng dụng, Tescan
  Jan là chuyên gia ứng dụng khoa học vật liệu tại Tescan, tập trung vào các quy trình FIB-SEM và chuẩn bị mẫu nâng cao. Với nền tảng nghiên cứu về kỹ thuật vật liệu và xử lý chùm tia điện tử đối với các hợp kim phức tạp, anh mang đến góc nhìn thực tế về cách các điều kiện chuẩn bị mẫu ảnh hưởng đến vi cấu trúc và độ tin cậy của kết quả hiển vi cuối cùng.

• 14:00 (2:00 chiều) ngày 02/12/2026 (Giờ Việt Nam)

Giới thiệu

Bạn đã chuẩn bị mẫu TEM Lamella, đạt độ mỏng mục tiêu và chuyển mẫu thành công. Tuy nhiên, khi đưa vào kính hiển vi điện tử truyền qua (TEM), các ranh giới bề mặt vẫn bị mờ hoặc tín hiệu phân tích khó diễn giải.

Trọng tâm của buổi hội thảo trực tuyến này sẽ là các quyết định thực tế mà bạn có thể áp dụng ngay tại phòng thí nghiệm: cách thực hiện quá trình làm mỏng cuối cùng (final thinning) một cách chính xác, những thông số nào đóng vai trò quan trọng và cách kiểm tra xem lá mẫu đã sẵn sàng cho việc chụp ảnh và phân tích độ phân giải cao hay chưa.

Nội dung chính

• Cách nhận diện hiện tượng cấy ion Ga (Ga implantation), tái lắng đọng (redeposition) và các hiệu ứng liên quan đến quá trình chuẩn bị mẫu khác.
• Khi nào việc hoàn thiện bằng chùm ion Ga⁺ điện áp thấp (low-kV) là đủ, và khi nào nên cân nhắc sử dụng phương pháp đánh bóng bằng ion Ar⁺ (AURA™ polishing).
• Cách lựa chọn chiến lược đánh bóng cho các vật liệu và hình học mẫu khác nhau.
• Cách kiểm tra lá mẫu trước khi chuyển sang kính TEM.