TESCAN TENSOR - Kính hiển vi điện tử truyền quét

Giới thiệu TESCAN TENSOR

Khác với các hệ thống TEM truyền thống thường đòi hỏi kỹ năng vận hành cực cao, TESCAN TENSOR định nghĩa lại trải nghiệm người dùng với khả năng vận hành trực quan. Thiết bị này giúp việc thực hiện các kỹ thuật phân tích nhiễu xạ và lập bản đồ 4D-STEM trở nên đơn giản và nhanh chóng như việc chụp ảnh SEM hay lập bản đồ nguyên tố EDX thông thường.

Ứng dụng điển hình

Nhờ khả năng phân tích đa chế độ và tốc độ xử lý dữ liệu vượt trội, TESCAN TENSOR là công cụ đắc lực trong nhiều lĩnh vực công nghệ cao:

• Khoa học vật liệu: Nghiên cứu cấu trúc tinh thể, định hướng pha và biên hạt của các loại vật liệu mới, màng mỏng và hạt nano.
• Công nghệ bán dẫn: Phân tích ứng suất (Strain analysis) trong các linh kiện bán dẫn với độ chính xác cực cao, giúp tối ưu hóa hiệu suất chip xử lý.
• Năng lượng và Pin: Phân tích sự thay đổi vi cấu trúc và thành phần hóa học của vật liệu điện cực trong quá trình sạc/xả.
• Tinh thể học Nano (3D-ED): Xác định cấu trúc nguyên tử của các mẫu tinh thể có kích thước cực nhỏ mà kỹ thuật tia X không thực hiện được.
• Phân tích lỗi (Failure Analysis): Xác định nhanh chóng các khuyết tật cấu trúc hoặc tạp chất hóa học trong quy trình sản xuất.

Tính năng nổi bật

TESCAN TENSOR sở hữu những công nghệ tiên phong giúp thiết lập tiêu chuẩn mới cho dòng STEM phân tích:

• Tích hợp tiền sai chùm tia (Integrated Beam Precession): Với tốc độ lên tới 72,000 Hz, tính năng này giúp giảm hiệu ứng nhiễu động và cải thiện độ chính xác trong lập bản đồ pha và ứng suất.
• Xử lý dữ liệu thời gian thực (On-the-fly Processing): Sử dụng nền tảng phần mềm Explore™, cho phép quan sát kết quả phân tích 4D-STEM ngay trong khi đang quét mẫu.
• Tự động hóa hoàn toàn (Automated Alignments): Hệ thống tự động căn chỉnh cột điện tử và thấu kính, giúp mọi người vận hành đều thu được kết quả đồng nhất và có tính lặp lại cao.
• Môi trường chân không siêu sạch (Near-UHV): Thiết kế buồng mẫu đạt độ chân không cực cao, hạn chế tối đa tình trạng nhiễm bẩn Carbon trên bề mặt mẫu.
• Đồng bộ hóa hoàn hảo: Sự kết hợp giữa nguồn điện tử Schottky FEG, bộ triệt chùm tia nhanh và đầu dò điện tử trực tiếp DECTRIS QUADRO cho phép thu nhận đồng thời dữ liệu nhiễu xạ và phổ EDS tại mỗi pixel.

Câu hỏi thường gặp (FAQ)

Tổng quan về TESCAN TENSOR

TESCAN TENSOR không chỉ là một chiếc kính hiển vi STEM; nó là một nền tảng phân tích toàn diện giúp rút ngắn khoảng cách giữa việc thu nhận dữ liệu và đưa ra quyết định nghiên cứu. Bằng cách kết hợp các tính năng tiên tiến như tiền sai chùm tia tốc độ cao, tự động hóa thông minh và xử lý dữ liệu thời gian thực, TENSOR mang lại hiệu suất làm việc tối đa cho cả môi trường nghiên cứu hàn lâm và công nghiệp.

Đây chính là giải pháp lý tưởng cho những đơn vị đang tìm kiếm một công cụ phân tích cấu trúc nano mạnh mẽ, chính xác nhưng vẫn đảm bảo tính dễ sử dụng và năng suất cao.

Video/Webinar liên quan

• Webinar: -
• Video: - 

Liên hệ & Hỗ trợ