Name: TESCAN CLARA™
Brand: TESCAN

Giới thiệu TESCAN CLARA

SEM độ phân giải siêu cao mang lại nhiều thông tin hơn từ mỗi lần quét

Khai thác nhiều thông tin hơn từ các vật liệu khó quan sát ở năng lượng hạ cánh thấp. CLARA™ kết hợp khả năng chụp ảnh SEM độ phân giải siêu cao không trường, phát hiện electron thứ cấp (SE) và electron tán xạ ngược (BSE) tiên tiến, cùng khả năng tự động hóa có hướng dẫn, giúp bạn chuyển từ việc định hướng mẫu đến những phân tích đáng tin cậy nhanh hơn.

Được thiết kế cho đặc trưng hóa ở cấp độ nano trên nhiều loại vật liệu và quy trình làm việc khác nhau, CLARA™ cho phép bạn làm rõ các cấu trúc bề mặt tinh vi, sự khác biệt vật liệu và các đặc trưng gần bề mặt chỉ từ một lần thu nhận dữ liệu, đồng thời vẫn duy trì tính linh hoạt cần thiết cho các kỹ thuật phân tích nâng cao.

CLARA™ mang đến cho các nhà nghiên cứu độ phân giải, khả năng kiểm soát độ tương phản và vận hành có hướng dẫn cần thiết để tự tin khám phá các chi tiết bề mặt, sự khác biệt vật liệu và các đặc trưng gần bề mặt.

Được xây dựng trên công nghệ cột SEM không trường BrightBeam™ của Tescan và vận hành thông qua phần mềm Essence™ của Tescan, CLARA™ hỗ trợ làm việc hiệu quả trên nhiều loại mẫu khác nhau, các hệ thống thiết bị dùng chung và người dùng với nhiều mức độ kinh nghiệm. Hệ thống giúp bạn thu nhận thông tin có ý nghĩa với ít thỏa hiệp hơn, ít thiết lập hơn và ít phép đo lặp lại hơn.

Hình ảnh không trường có độ phân giải siêu cao thực sự ở keV thấp
Cung cấp chi tiết ổn định ở cấp độ nano trên nhiều loại mẫu khác nhau, bao gồm các mẫu tích điện, nhạy cảm và có từ tính.
Chụp ảnh UHR SE và BSE đồng thời với khả năng kiểm soát độ tương phản tiên tiến
Kết hợp thu nhận song song tín hiệu SE và BSE với độ tương phản BSE được lọc theo năng lượng và lựa chọn theo góc, mang lại thông tin chuyên sâu hơn về vật liệu chỉ trong một lần quét.
Chuyển đổi dễ dàng giữa các điều kiện chụp ảnh và điều hướng liền mạch
Được hỗ trợ bởi khả năng tự động hóa In-Flight Beam Tracing® để tối ưu hóa chùm tia nhanh chóng, kết hợp với Wide Field Optics® cho phép điều hướng liền mạch từ cấp độ macro đến nano.
Quy trình phân tích nâng cao với tính linh hoạt của nền tảng mở
Hỗ trợ tích hợp nhiều phương thức phân tích khác nhau (EDS, EBSD, Raman, v.v.) và các quy trình làm việc có thể tùy chỉnh thông qua tự động hóa tùy chỉnh và lập trình dựa trên Python.
Chụp ảnh chân không thấp MultiVac với hơi nước và khả năng chuyển đổi dễ dàng
Cải thiện chất lượng tín hiệu và cho phép chụp ảnh, phân tích ổn định các mẫu tích điện và nhạy cảm với chùm tia, đồng thời duy trì trường quan sát không bị ảnh hưởng.

Nơi Tescan CLARA™ tạo nên sự khác biệt

Khám phá nhiều thông tin hơn từ mỗi lần quét

Đặc trưng hóa ở cấp độ nano hiện đại đòi hỏi nhiều hơn chỉ độ phân giải.

CLARA™ được thiết kế để giúp các nhà nghiên cứu khai thác nhiều độ tương phản bổ sung từ cùng một vùng quan tâm, làm rõ những thông tin mà các quy trình chụp ảnh thông thường có thể bỏ sót.

Thông qua chụp ảnh electron thứ cấp (SE) và electron tán xạ ngược (BSE) độ phân giải siêu cao đồng thời, kết hợp với phát hiện BSE được lọc theo năng lượng và lựa chọn theo góc, CLARA™ cho phép các nhà nghiên cứu:

Làm rõ địa hình bề mặt tinh vi
Phân biệt các pha và thành phần vật liệu
Phát hiện nhiễm bẩn gần bề mặt và các cấu trúc bị chôn bên dưới
Quan sát các đặc trưng nhạy với định hướng
Giảm số lần quét lại và phép đo lặp lại
Chuyển nhanh hơn từ chụp ảnh sang diễn giải

Khác với các quy trình UHR SEM thông thường yêu cầu thu nhận lặp lại hoặc chuyển đổi detector, CLARA™ kết hợp nhiều tín hiệu bổ sung trong một nền tảng và quy trình làm việc duy nhất.

Độ tương phản đa phương thức thực sự ở cấp độ nano

MultiDetector™ và Axial detector được thiết kế lại cho phép lựa chọn độ tương phản linh hoạt đối với cả chụp ảnh nhạy bề mặt và nhạy vật liệu.

Chụp ảnh BSE được lọc theo năng lượng giúp làm rõ sự khác biệt vật liệu gần bề mặt và nhiễm bẩn có thể vẫn bị che khuất trong các quy trình BSE thông thường. Lựa chọn độ tương phản theo góc tiếp tục nâng cao khả năng diễn giải sự thay đổi về địa hình và thành phần.

Kết quả là khả năng đặc trưng hóa ở cấp độ nano phong phú hơn từ mỗi lần thu nhận.

Chụp ảnh độ phân giải siêu cao ở năng lượng thấp

Thu nhận hình ảnh độ phân giải siêu cao ổn định trong khi duy trì các vật liệu nhạy cảm ở trạng thái gần với trạng thái nguyên bản hơn.

Được xây dựng trên công nghệ cột SEM không trường BrightBeam™ của Tescan, CLARA™ mang lại hiệu năng chụp ảnh ổn định ở keV thấp trên các mẫu khó, bao gồm vật liệu không dẫn điện, mẫu có từ tính, cấu trúc nhạy với chùm tia, vật liệu xốp và mẫu có địa hình bề mặt cao.

Chụp ảnh ở năng lượng hạ cánh thấp giúp giảm ảnh hưởng của tích điện và hạn chế hư hại do chùm tia, đồng thời duy trì chi tiết ở cấp độ nano.

Thiết kế quang học không trường cũng cho phép chụp ảnh đáng tin cậy đối với các mẫu có từ tính mà không gặp những hạn chế liên quan đến hệ thấu kính ngâm.

Giảm công đoạn chuẩn bị mẫu

Các nhà nghiên cứu thường cần cân bằng giữa chất lượng hình ảnh và mức độ phức tạp của việc chuẩn bị mẫu.

CLARA™ hỗ trợ chụp ảnh chất lượng cao đối với các mẫu khó với mức độ phụ thuộc thấp hơn vào lớp phủ dẫn điện hoặc các quy trình chuẩn bị mở rộng, giúp duy trì tính toàn vẹn của mẫu đồng thời đẩy nhanh quá trình phân tích.

Chụp ảnh UHR SE và BSE đồng thời

Thu nhận đồng thời thông tin bổ sung về địa hình và vật liệu.

CLARA™ kết hợp Axial detector và MultiDetector™ để cho phép chụp ảnh SE và BSE độ phân giải siêu cao song song từ cùng một vùng quan tâm. Điều này cho phép các nhà nghiên cứu trực tiếp so sánh độ tương phản bề mặt, địa hình và vật liệu, giảm việc quét lại và định vị lại, duy trì tính nhất quán của ROI, đồng thời đẩy nhanh quá trình diễn giải và ra quyết định.

Axial detector cung cấp hình ảnh có độ nhạy bề mặt cao đối với các chi tiết tinh vi ở cấp độ nano, trong khi MultiDetector™ cho phép lọc tín hiệu BSE linh hoạt và tối ưu hóa độ tương phản.

Lọc BSE và lựa chọn độ tương phản nâng cao

MultiDetector™ hỗ trợ lọc năng lượng trên 4 keV, cho phép các nhà nghiên cứu tối ưu hóa độ tương phản nhạy vật liệu trên nhiều ứng dụng.

Các nhà nghiên cứu có thể điều chỉnh điều kiện tương phản để làm nổi bật độ tương phản vật liệu nhạy bề mặt, độ tương phản thành phần thuần túy, độ tương phản nhạy định hướng, nhiễm bẩn gần bề mặt, các lớp bề mặt mỏng và các đặc trưng bị chôn bên dưới. Tính linh hoạt này giúp làm rõ những thông tin mà nếu không sẽ cần nhiều quy trình khác nhau hoặc hoàn toàn có thể bị che khuất.

Rút ngắn thời gian từ thu nhận đến dữ liệu với tính năng tự động hóa

Chuyển từ điều hướng đến các điều kiện chụp ảnh được tối ưu hóa nhanh hơn với ít điều chỉnh thủ công hơn.

Phần mềm Tescan Essence™ kết hợp các quy trình làm việc có hướng dẫn với các công nghệ tự động hóa In-Flight™ trực tiếp để đơn giản hóa việc vận hành trên nhiều mức độ kinh nghiệm.

Các công cụ tự động hóa tích hợp bao gồm tối ưu hóa chùm tia liên tục theo thời gian thực, tự động lấy nét, tự động điều chỉnh loạn thị, tự động điều chỉnh độ sáng và độ tương phản trực tiếp, tự động căn chỉnh chùm tia và hỗ trợ quy trình làm việc. Những công cụ này giúp người dùng đạt được điều kiện chụp ảnh ổn định nhanh hơn, giảm sự phụ thuộc vào người vận hành, rút ngắn thời gian làm quen, cải thiện khả năng lặp lại giữa các phòng thí nghiệm dùng chung và duy trì năng suất trên nhiều quy trình làm việc khác nhau.

Điều hướng liền mạch từ macro đến nano

Wide Field Optics® và Continual Wide Field™ hỗ trợ điều hướng nhanh, không méo trên các mẫu lớn hoặc phức tạp.

Các nhà nghiên cứu có thể chuyển hiệu quả từ chụp ảnh tổng quan sang thu nhận hình ảnh độ phân giải siêu cao trong khi vẫn duy trì vùng quan tâm xuyên suốt quy trình.

Ngay cả ở chế độ chân không thấp, điểm trục quét trong mặt phẳng khẩu độ vẫn duy trì trường quan sát rộng, tương tự như trong chân không cao, bất kể khẩu độ được đưa vào là loại nào. Điều này tạo điều kiện điều hướng nhanh hơn, quy trình làm việc mượt mà hơn và phân tích EDS hiệu quả hơn bằng cách giảm nhu cầu điều hướng lại và lập bản đồ bổ sung. Chế độ tổng quan giúp đơn giản hóa việc phân tích các mẫu lớn, có địa hình bề mặt và dạng hạt, ngay cả khi nghiêng, với khả năng điều hướng chính xác, đo lường đáng tin cậy trên trường quan sát rộng.

Điều này đặc biệt có giá trị đối với:

Phân tích hư hỏng
Nghiên cứu vật liệu pin
Các mẫu có địa hình bề mặt lớn
Môi trường phòng thí nghiệm có nhiều người dùng
Quy trình chụp ảnh tương quan

Được thiết kế cho các phòng thí nghiệm nghiên cứu dùng chung

Các cơ sở nghiên cứu hiện đại yêu cầu những thiết bị kết hợp hiệu năng cao cấp với tính linh hoạt trong vận hành.

CLARA™ được thiết kế cho các phòng thí nghiệm cộng tác, nơi xử lý nhiều loại mẫu, kỹ thuật phân tích và mức độ kinh nghiệm của người vận hành khác nhau.

Căn chỉnh tự động, Mô hình va chạm 3D trực tiếp của Essence™, chuyển đổi dễ dàng giữa chế độ chân không cao và chân không thấp, cùng khả năng vận hành MultiVac với nitơ và hơi nước giúp các nhà nghiên cứu làm việc hiệu quả trong các điều kiện chụp ảnh thay đổi, đồng thời bảo vệ cả thiết bị và mẫu.

Những khả năng về quy trình làm việc này giúp các phòng thí nghiệm hỗ trợ phạm vi ứng dụng rộng hơn, giảm gánh nặng đào tạo, cải thiện tính nhất quán của quy trình giữa những người dùng và tăng thông lượng trong môi trường phòng thí nghiệm dùng chung.

Quy trình phân tích nâng cao

CLARA™ kết hợp hiệu năng chụp ảnh ở cấp độ nano với tính linh hoạt cần thiết cho đặc trưng hóa phân tích nâng cao.

Nền tảng hỗ trợ các quy trình phân tích nâng cao, bao gồm EDS, EBSD, Raman, phát quang cathode (CL), WDS, EBL, 4D-STEM và các kỹ thuật chụp ảnh tương quan, cho phép các nhà nghiên cứu kết hợp chụp ảnh ở cấp độ nano với các phương pháp đặc trưng hóa hóa học, cấu trúc và vật liệu bổ sung trong một quy trình duy nhất.

Wide Field Optics®, In-Flight Beam Tracing® và hiệu năng ổn định ở keV thấp hỗ trợ chuyển đổi hiệu quả giữa điều kiện chụp ảnh và điều kiện phân tích mà không làm gián đoạn quy trình.

Nền tảng linh hoạt cho nhu cầu nghiên cứu trong tương lai

CLARA™ được thiết kế như một nền tảng đặc trưng hóa ở cấp độ nano có tuổi thọ sử dụng lâu dài.

Buồng mẫu lớn, cấu hình detector linh hoạt, khả năng tương thích phân tích rộng và kiến trúc sẵn sàng nâng cấp giúp các phòng thí nghiệm mở rộng năng lực theo thời gian trong khi vẫn duy trì tính liên tục của quy trình làm việc.

Nghiên cứu vật liệu pin: Làm rõ nhiễm bẩn bề mặt, sự thay đổi pha và những thay đổi cấu trúc ở cấp độ nano trên các vật liệu pin phức tạp.

Phân tích hư hỏng: Phát hiện những khác biệt tinh vi về vật liệu, các lớp nhiễm bẩn và các khuyết tật địa hình góp phần gây ra hư hỏng sản phẩm.

Đặc trưng hóa vật liệu tiên tiến: Phân tích kim loại, gốm, polymer, vật liệu composite và vật liệu có từ tính với độ tương phản đa phương thức độ phân giải cao.

Nghiên cứu bán dẫn và vi điện tử: Thu nhận chi tiết bề mặt ở cấp độ nano và độ tương phản vật liệu đồng thời hỗ trợ các quy trình phân tích nâng cao.

Cơ sở nghiên cứu và phòng thí nghiệm dùng chung: Hỗ trợ nhiều người dùng và các loại mẫu không dự đoán trước với nhiều phương thức, quy trình làm việc, tính năng tự động hóa và khả năng phân tích linh hoạt.

Chụp ảnh chân không thấp MultiVac với hơi nước

MultiVac mở rộng khả năng chụp ảnh chân không thấp bằng cách hỗ trợ hơi nước bên cạnh nitơ, giúp cải thiện chất lượng tín hiệu ở năng lượng hạ cánh thấp. So với điều kiện chân không thấp thông thường, hơi nước có thể làm giảm sự tán xạ chùm tia và tăng cường độ tương phản electron thứ cấp, giúp làm rõ các đặc trưng bề mặt tinh vi hơn và cải thiện độ rõ của hình ảnh trên các mẫu khó.

Phần mềm chụp ảnh Tescan

Phần mềm Tescan Essence™ cung cấp giao diện người dùng thống nhất và trực quan để điều khiển SEM hoàn chỉnh.

Tích hợp chụp ảnh, điều hướng và quy trình phân tích
Quy trình làm việc tập trung theo tác vụ và bố cục dành cho nhiều người dùng
Mô hình va chạm 3D trực tiếp để di chuyển an toàn và bảo vệ chống va chạm
Tự động căn chỉnh chùm tia, căn chỉnh chụp ảnh và tự động lấy nét

Khai thác nhiều hơn từ mỗi lần quét

Chụp ảnh nâng cao trở nên dễ dàng; nhiều chi tiết hơn, ít thiết lập hơn

Từ tổng quan đến chi tiết nano chỉ trong vài giây

Dễ dàng điều hướng từ trường quan sát rộng đến độ phân giải siêu cao mà không mất đi độ tập trung hoặc thời gian.

Nhiều tín hiệu hơn. Nhiều thông tin hơn. Chỉ một lần quét.

Thu nhận đồng thời nhiều tín hiệu tương phản để có được thông tin chuyên sâu hơn chỉ trong một lần thu nhận.

Làm rõ các đặc trưng ẩn bằng cách lọc tín hiệu

Sử dụng khả năng phát hiện được lọc theo năng lượng để làm rõ các chi tiết về bề mặt và vật liệu mà các phương pháp khác có thể bỏ sót.

Hiệu năng dễ tiếp cận cho mọi người dùng

Vận hành trực quan với các quy trình làm việc tự động và chuyển đổi chế độ mượt mà, cho phép người dùng ở mọi cấp độ kỹ năng đạt được kết quả đáng tin cậy mà không cần sự hỗ trợ của chuyên gia.

ỨNG DỤNG TESCAN CLARA™

Tescan CLARA™ trong khoa học vật liệu

Tescan CLARA™ cho phép đặc trưng hóa toàn diện các vật liệu tiên tiến bằng cách kết hợp chụp ảnh độ phân giải siêu cao với nhiều phương pháp tạo độ tương phản và kỹ thuật phân tích. Hệ thống được thiết kế để khai thác tối đa thông tin từ các mẫu phức tạp, đồng thời duy trì khả năng vận hành dễ dàng và hiệu quả quy trình làm việc.

Chụp ảnh các vật liệu không dẫn điện, có từ tính và xốp với hiệu năng SEM không trường nhờ công nghệ BrightBeam™, hỗ trợ chụp ảnh độ phân giải cao ở năng lượng chùm tia thấp.
Khai thác tối đa thông tin từ mỗi mẫu bằng chụp ảnh năng lượng thấp, giảm tốc chùm tia và phát hiện BSE được lọc theo năng lượng và lựa chọn theo góc, giúp tăng độ nhạy bề mặt và độ tương phản vật liệu.
Phân tích bề mặt gãy, định hướng hạt, phân bố pha và thành phần hóa học bằng các quy trình EBSD và EDS.
Nghiên cứu sự tiến triển cấu trúc, bao gồm sự lan truyền vết nứt và sự thay đổi pha, nhằm hỗ trợ đặc trưng hóa vật liệu động.
Tương quan các kỹ thuật phân tích bổ sung như Raman và SEM để liên kết thông tin về cấu trúc, thành phần và hóa học trong một quy trình làm việc duy nhất.

Tescan CLARA™ trong nghiên cứu vật liệu nano

Tescan CLARA™ cung cấp độ phân giải và khả năng kiểm soát độ tương phản cần thiết để nghiên cứu các cấu trúc ở cấp độ nano trên nhiều loại vật liệu. Khả năng vận hành ở năng lượng chùm tia thấp cho phép các nhà nghiên cứu phân tích các mẫu nhạy cảm với mức độ chuẩn bị mẫu thấp hơn, đồng thời bảo toàn các thông tin cấu trúc quan trọng. Đồng thời, các khả năng tạo độ tương phản tiên tiến cung cấp thông tin chuyên sâu hơn bằng cách kết hợp thông tin về địa hình và vật liệu, làm rõ các chi tiết bề mặt tinh vi và những đặc trưng có thể bị che khuất bằng các phương pháp chụp ảnh thông thường.

Đặc trưng hóa các vật liệu phức tạp và nhạy cảm, bao gồm các cấu trúc nano không dẫn điện như silica mao quản trung bình, bằng chụp ảnh năng lượng thấp, không trường trong khi giảm các ảnh giả do tích điện.
Phân giải các đặc trưng ở cấp độ nano như kích thước hạt, cấu trúc lỗ xốp và độ dày thành bằng chụp ảnh độ phân giải siêu cao được hỗ trợ bởi công nghệ BrightBeam™ và tăng cường bằng giảm tốc chùm tia.
Kết nối đặc tính vật liệu ở cấp độ macro với cấu trúc ở cấp độ nano bằng cách kết hợp chụp ảnh độ phân giải cao với các cơ chế tạo độ tương phản tiên tiến và các kỹ thuật phân tích.

Tescan CLARA™ trong nghiên cứu kim loại

Tescan CLARA™ hỗ trợ phân tích chi tiết vật liệu kim loại, từ các đặc trưng cấu trúc trên quy mô lớn đến các khuyết tật ở cấp độ nano và đặc tính pha. Sự kết hợp giữa khả năng điều hướng, chụp ảnh và phân tích giúp xây dựng các quy trình làm việc hiệu quả và đáng tin cậy cho cả ứng dụng nghiên cứu và công nghiệp.

Đặc trưng hóa nhanh chóng và đáng tin cậy các cấu trúc kim loại bị gãy và kim loại khối, từ chụp ảnh tổng quan trên diện tích lớn đến phân tích chi tiết ở cấp độ nano.
Điều hướng hiệu quả trên mẫu bằng Wide Field Optics®, cho phép chuyển đổi liền mạch từ hình ảnh tổng quan sang phân tích chi tiết.
Phân tích cấu trúc pha, thành phần và khuyết tật bằng nhiều loại detector và các quy trình EDS, EBSD.
Thu nhận cả thông tin tổng thể trên quy mô lớn và các chi tiết tinh vi để nâng cao khả năng hiểu về ứng xử của vật liệu và cơ chế hư hỏng.

Tescan CLARA™ trong tạo mẫu nano

Chế tạo và đặc trưng hóa chính xác cho các cấu trúc nano tiên tiến

Tescan CLARA™ được trang bị Nanoprototyping Toolbox cung cấp đầy đủ khả năng tạo mẫu thiết bị ở cấp độ nano — từ thiết kế đến kiểm tra — giúp người dùng tạo ra các cấu trúc chức năng với tốc độ và độ chính xác vượt trội.

Thiết kế và chế tạo trực tiếp các cấu trúc 2D/3D mới trong SEM — từ mảng plasmonic đến bố trí thiết bị lượng tử.
Đạt được khả năng tạo mẫu ở cấp độ nano chính xác cho các ứng dụng quang khắc và tạo mẫu yêu cầu cao.
Chế tạo hoặc khắc trực tiếp các cấu trúc — không cần chất cản quang, không cần thêm công đoạn — bằng cách sử dụng hệ thống phun khí tích hợp để lắng đọng vật liệu tại chỗ.
Phân tích và lặp lại quá trình phát triển mẫu thử trực tiếp tại chỗ, rút ngắn thời gian hoàn thành từ vài tuần xuống còn vài giờ.
Tự động hóa toàn bộ ngay cả các quy trình tạo mẫu phức tạp bằng Python API và lập trình khối trực quan — không yêu cầu chuyên môn lập trình.

Tescan CLARA™ mở rộng khả năng nghiên cứu ở cấp độ nano với một môi trường tích hợp hoàn chỉnh cho chế tạo và phân tích — một kính hiển vi, một phần mềm, toàn quyền kiểm soát. Các nhà nghiên cứu và kỹ sư có thể thiết kế, tạo mẫu và đặc trưng hóa các cấu trúc nano trong cùng một hệ thống, duy trì toàn quyền kiểm soát về độ phân giải, hình học và quy trình làm việc. Cho dù tạo mẫu các thiết bị plasmonic, cấu trúc lượng tử hay điều chỉnh đầu dò AFM, CLARA™ hỗ trợ đổi mới ở cấp độ nano nhanh chóng, linh hoạt và được kiểm soát hoàn toàn.

Tescan CLARA™ trong nghiên cứu pin

Mang lại khả năng chụp ảnh và phân tích ở cấp độ nano vượt trội cho đặc trưng hóa vật liệu pin với Tescan CLARA™ — SEM độ phân giải siêu cao, không trường được thiết kế cho nghiên cứu tiên tiến, kiểm soát chất lượng tự động và phân tích hư hỏng.

Thúc đẩy R&D về pin thông qua đặc trưng hóa chi tiết các vật liệu tiên tiến, giao diện điện cực và các đặc trưng của SEI bằng SEM, EDS và quang phổ Raman tích hợp.
Cải thiện chất lượng cell bằng cách phân tích đặc tính của vật liệu hoạt tính và vật liệu phân cách, cũng như sự phân bố vật liệu điện cực bằng SEM điện áp thấp và chụp ảnh BSE được lọc theo năng lượng.
Tối ưu hóa các tác vụ QA/QC với khả năng vận hành trực quan và các quy trình chụp ảnh tự động.
Hỗ trợ phân tích hư hỏng sau chu kỳ để nâng cao độ an toàn và tuổi thọ cell bằng cách đánh giá sự suy giảm vật liệu, hiện tượng bong tách và nứt.
Bảo vệ các mẫu nhạy cảm bằng quy trình chuyển mẫu trong khí trơ và quy trình đông lạnh.

Tescan CLARA™ trong khoa học sự sống

Được thiết kế cho chụp ảnh thường quy và phân tích 3D trong khoa học sự sống, giúp chuyển đổi hiệu quả từ hình ảnh tổng quan đến cấu trúc siêu vi mà không ảnh hưởng đến chất lượng dữ liệu.

- Chụp ảnh độ phân giải siêu cao: Từ hình ảnh tổng quan trên diện tích lớn đến chi tiết ở cấp độ nano, cho phép phân tích mẫu nhanh chóng và đáng tin cậy.
- Điều kiện chụp ảnh nhẹ nhàng: Vận hành ở keV thấp giúp bảo toàn các cấu trúc sinh học mong manh đồng thời giảm thiểu hư hại do chùm tia.
- Quy trình 3D tích hợp: Khả năng VolumeSEM tích hợp (SEM mặt cắt tuần tự, array tomography) cung cấp thông tin thể tích thực sự.
- Năng suất cao: Chuyển đổi nhanh giữa chế độ 3D và SEM tiêu chuẩn giúp duy trì quy trình làm việc hiệu quả.
- Nền tảng linh hoạt và có khả năng mở rộng: Hỗ trợ EDS, STEM, Raman, Cryo và các tùy chọn làm lạnh để đáp ứng nhu cầu nghiên cứu ngày càng phát triển.
- Tối ưu cho phòng thí nghiệm nhiều người dùng: Hiệu năng đáng tin cậy, thông lượng cao cho chụp ảnh sinh học thường quy.

Tescan CLARA™ là lựa chọn phù hợp cho các phòng thí nghiệm khoa học sự sống và trung tâm chụp ảnh cần một hệ thống SEM linh hoạt, thông lượng cao cho công việc thường ngày — từ chụp ảnh tổng quan nhanh đến các quy trình 2D và 3D ở độ phân giải siêu cao.