Chủ đề: Từ phòng thí nghiệm đến thị trường: Tăng tốc để phát triển Pin thế hệ tiếp theo với hệ thống Plasma FIB-SEM và TOF-SIMS

Nghiên cứu về vật liệu điện hóa trong việc thiết kế pin đóng vai trò quan trọng, hướng đến một tương lai năng lượng bền vững và độc lập về mặt năng lượng đối với nhiên liệu hóa thạch. Trong thực tế, mật độ năng lượng, tuổi thọ của pin và tốc độ sạc/xả được liên kết với thành phần hóa học và các đặc điểm cấu trúc cụ thể bên trong pin. Nói chung, việc tối ưu hóa tất cả các tham số này là một thách thức đa quy mô, đa phương thức, bao gồm việc phân tích cực dương, cực âm, chất điện phân và các lớp giao pha của pin.
Bài thuyết trình này giới thiệu vai trò của Kính hiển vi điện tử quét được trang bị chùm ion hội tụ (FIB-SEM) kết hợp với đầu dò khối phổ ion thứ cấp thời gian bay nhỏ gọn (ToF-SIMS) trong việc nghiên cứu đặc tính hình thái và thành phần hóa học của các lớp giao pha trong Pin Li-ion. Nội dung sẽ đặc biệt tập trung vào cách quan sát SEM với ToF-SIMS và các kỹ thuật phân tích khác như quang phổ tán sắc năng lượng tia X (EDS) để hiểu rõ hơn và đánh giá các đặc điểm như suy thoái vật liệu pin, hình thành lớp SEI hoặc thay đổi pha hóa học bên trong cell pin.
Nội dung nổi bật:
- Khám phá vai trò quan trọng của pin Li-ion trong việc đạt được năng lượng bền vững và độc lập với nhiên liệu hóa thạch.
- Hiểu rõ hơn về việc tối ưu hóa tuổi thọ của cell và tốc độ sạc/xả thông qua phân tích thành phần hóa học và cấu trúc bằng Plasma FIB-SEM tích hợp với đầu dò khối phổ ion thứ cấp thời gian bay (ToF-SIMS).
- Tìm hiểu về các thiết bị tiên tiến như FIB-SEM và ToF-SIMS để mô tả các thành phần và pha xen kẽ của pin Li-ion.
- Hiểu được cách các kỹ thuật phân tích này giúp đánh giá sự xuống cấp của vật liệu pin, sự hình thành lớp SEI và sự thay đổi các pha hóa học bên trong pin Li-ion.
Đơn vị tổ chức: TESCAN - Cộng hoà Séc, và Dragonfly Energy - Mỹ

Diễn giả:
___________________________________________________

Tiếng Việt
日本語 (Japan)
한국어 (Korean)
中文 (Chinese)
English (UK)