Kính hiển vi điện tử truyền quét STEM TENSOR

4D-STEM Tích hợp cao, Phân tích mạnh, Hỗ trợ hàng đầu
TESCAN ORSAY HOLDING đã công bố một thiết bị TENSOR mới mang tính cách mạng – Kính hiển vi điện tử truyền quét 4D-STEM ngay từ đầu được xây dựng nhằm mang đến một mức độ hiệu suất và trải nghiệm người dùng hoàn toàn mới. TENSOR được thiết kế để đáp ứng nhu cầu của bất kỳ ai quan tâm đến ứng dụng mô tả đặc điểm nano đa phương thức (hình thái, hoá học, cấu trúc) như các nhà khoa học vật liệu, kỹ sư nghiên cứu phát triển (R&D), phân tích lỗi (FA) và nhà tinh thể học.

Kính hiển vi điện tử truyền quét STEM TENSOR

Jaroslav Klíma, Giám đốc điều hành của TESCAN ORSAY Holding (TOH a.s.) cho biết: “Với sự ra mắt của Kính hiển vi điện tử truyền quét STEM TENSOR, TESCAN là công ty phù hợp để chuyển giao ‘trung thế’, Schottky FEG, các giải pháp phân tích 4D-STEM. TESCAN hiểu những thách thức của việc tích hợp không chỉ STEM mà đặc biệt là khả năng 4D-STEM, vào các cột TEM legacy. Kiến thức sâu rộng này đã được tận dụng vào thiết kế ngay từ đầu, nhờ đó việc quét chùm điện tử được đồng bộ hóa với hình ảnh nhiễu xạ bằng cách sử dụng máy dò điện tử trực tiếp điểm ảnh lai, xử lý chùm tia điện tử, thu nhận EDS, xóa chùm tia và phân tích gần thời gian thực và xử lý dữ liệu 4D-STEM. ”
JK Weiss, Quản lý bộ phận Nghiên cứu phát triển ứng dụng TEM và Tổng quản lý TESCAN Tempe cho biết thêm “Không chỉ phần cứng giúp hệ thống này khác biệt với tất cả các thiết bị TEM khác trên thị trường mà còn là sự tích hợp của phần cứng và phần mềm, đem đến một trải nghiệm người dùng mới hoàn toàn mang tính cách mạng mà không yêu cầu các khoá đào tạo hàng tháng của các Ph.D, post-doc và hàng giờ điều chỉnh các cột giữa các chế độ phân tích khác nhau”
Đối với các nhà khoa học vật liệu, kỹ sư R&D và FA bán dẫn, Kính hiển vi điện tử truyền quét STEM TENSOR cung cấp mô tả đặc tính 2D & 3D đa phương thức, độ tương phản cao, độ phân giải cao của các vật liệu chức năng ở kích thước nano:
• Hình ảnh STEM (bright field, annular dark field, high-angle annular dark field)
• Hình ảnh mạng tinh thể STEM (STEM lattice imaging)
• Thành phần – EDS định lượng và mapping nguyên tố (quantitative EDS and elemental mapping)
• Định hướng và pha mapping (Orientation and phase mapping)
• Strain mapping
• Xuất dữ liệu (Virtual STEM and data export)
• STEM, STEM-EDS và chụp cắt lớp nhiễu xạ (STEM, STEM-EDS, and diffraction tomography)
Các ứng dụng trong phòng thí nghiệm bán dẫn bao gồm mô tả đặc tính nano đa phương thức của màng mỏng để nghiên cứu phát triển và phân tích lỗi của thiết bị logic, bộ nhớ, lưu trữ và đóng gói nâng cao.
Đối với các nhà tinh thể học, Kính hiển vi điện tử truyền quét STEM TENSOR giúp xác định cấu trúc tinh thể của các hạt tự nhiên hoặc tổng hợp có kích thước nhỏ, dưới micromet mà quá nhỏ để phân tích bằng kỹ thuật micro-XRD.
Kính hiển vi điện tử truyền quét STEM TENSOR là một ví dụ sáng tạo đổi mới tiếp theo của TESCAN, sau khi công ty ra ra mắt kính hiển vi điện tử quét chùm ion hội tụ (FIB/SEM) đầu tiên trên thế giới và Plasma FIB/SEM, khối phổ ion thứ cấp thời gian bay (ToF-SIMS) ứng dụng trên nền tảng FIB/SEM, Dynamic-CT and Spectral-CT,” Vratislav Koštál, Giám đốc sản phẩm tại TESCAN cho biết. “Chúng tôi đã lắng nghe khách hàng của mình và đưa ra những gì họ yêu cầu – một giải pháp TEM dễ tiếp cận, có hiệu suất cao và hiệu quả để sử dụng phổ biến.
Để biết thêm thông tin về Kính hiển vi điện tử truyền quét STEM TENSOR, vui lòng truy cập: www.info.tescan.com/stem.