TESCAN VEGA - Kính hiển vi điện tử quét SEM

TESCAN VEGA LM

TESCAN VEGA GM

SEM phân tích cho các ứng dụng nghiên cứu đặc tính và kiểm soát chất lượng vật liệu ở quy mô micron

 

TESCAN VEGA Kính hiển vi điện tử quét (SEM) VEGA thế hệ thứ 4 của hãng TESCAN, sử dụng nguồn phát xạ điện tử Tungsten, kết hợp khả năng xem ảnh live và phân tích thành phần nguyên tố trong chung một cửa sổ phần mềm TESCAN Essence™. Sự kết hợp này đã đơn giản hóa việc thu thập cả dữ liệu hình ảnh bề mặt và dữ liệu phân tích trên một mẫu một cách nhanh chóng, giúp SEM VEGA trở thành giải pháp phân tích hiệu quả để kiểm tra vật liệu thông thường trong kiểm soát chất lượng, kiểm soát lỗi và nghiên cứu trong phòng thí nghiệm.

Đặc điểm nổi bật

  • Nền tảng phân tích kết hợp đầy đủ và hiệu quả với Essence™ EDS, cho phép thu ảnh SEM và kết quả phân tích thành phần nguyên tố trong cùng một cửa sổ Essence™ duy nhất.
  • Tối ưu hình ảnh và điều kiện phân tích ngay lập tức nhờ vào thiết kế cột SEM không giới hạn độc đáo của TESCAN bởi sáng chế công nghệ In-flight Beam Tracing™.
  • Điều chỉnh SEM dễ dàng và chính xác nhờ sự hỗ trợ của thiết kế Wide Field Optics™, giúp quan sát ở độ phóng đại 2x mà không cần thêm camera để hỗ trợ điều chỉnh vị trí mẫu.
  • Chế độ SingleVac™ là một tính năng tiêu chuẩn để quan sát các mẫu dễ tích điện bề mặt và mẫu nhạy với chùm điện tử.

 

  • Phần mềm Essence™ được thiết kế trực quan, dễ sử dụng giúp tăng trải nghiệm cho mọi cấp độ người dùng
  • An toàn tuyệt đối cho hệ đầu dò gắn trong SEM khi sàn mẫu và mẫu di chuyển, được đảm bảo bởi Essence™ 3D Collision.
  • Các đầu đo SEBSE trong cột SEM có bổ sung dạng lựa chọn thêm, kết hợp công nghệ giảm tốc chùm tia (BDT) tăng cường hiệu suất thu ảnh ở điện áp gia tốc thấp.
  • Nền tảng phân tích cho phép lựa chọn bổ sung các đầu đo phân tích khác và tích hợp dễ dàng như CL, Water cooled BSE or RAMAN spectrometer...

Essence EDS – mapping in live SEM window

Grains in ceramic foam

Observation of the charging materials in SingleVac mode – ceracmic (4Q BSE detector – Color mode)

Mechanically polished cross-section of solder ball

Porosity of a ceramic

ZnP particles in Al substrate

Ductile fracture of metal specimen after the sharpy V test imaged at 20 keV with SE detector

Crystals which grew on the surface of the turbine-blade from Ni-base superalloy after the exposure to working conditions at high temperatures (imaged at 10 keV with SE detector)

Adhesion of the thermal-spray coating based on hard-particles mixed with metallic matrix imaged at 30 keV with BSE detector

The microstructure of AlCuPbMg alloy containing alpha phase-grains with visible Cu-rich precipitates imaged at 7 keV with BSE detector

Bạn cần thêm thông tin về TESCAN VEGA?

Vui lòng liên hệ theo Form này

Vui lòng nhập trường này
Vui lòng nhập trường này
Vui lòng nhập trường này
Vui lòng nhập trường này

SẢN PHẨM CÙNG DANH MỤC

Kính hiển vi điện tử quét SEM dành cho Khoa học Vật liệu

TESCAN VEGA Compact

TESCAN VEGA Compact

TESCAN MIRA

TESCAN MIRA

TESCAN CLARA

TESCAN CLARA

TESCAN MAGNA

TESCAN MAGNA

Recorded Video

Chủ đề: SEM & FE-SEM đến từ "Thánh địa Kính hiển vi điện tử" - Tp. Brno-CH Séc

Người trình bày: Lê Văn Thương
Ngôn ngữ: Tiếng Việt
  • [WHY] Tại sao chúng ta cần Kính hiển vi điện tử quét?

  • [WHAT] Kính hiển vi SEM/FESEM:
    Nguyên lý + Ứng dụng
    Giới thiệu hãng TESCAN
    Giới thiệu các dòng SEM TESCAN

  • [HOW] Làm sao lựa chọn SEM phù hợp nhu cầu

  • [Q&A] Các câu hỏi thường gặp
    Giải đáp các thắc mắc khác
>> Xem chi tiết