MTECHNOLOGY MTECHNOLOGY
  • 0988248156
  • levanthuong@mtechnology.vn
MTECHNOLOGY MTECHNOLOGY
  • Sản phẩm
    • TEM - Kính hiển vi điện tử truyền qua
    • 4D-STEM - Kính hiển vi điện tử truyền quét
    • FIB-SEM - Kính hiển vi điện tử quét chùm ion hội tụ
    • SEM, FE-SEM - Kính hiển vi điện tử quét
    • Micro-CT - Máy chụp cắt lớp Micro-CT
    • Máy quang phổ Raman Renishaw
    • Spark & RDE OES - Máy quang phổ phát xạ
    • CMM - Máy đo 3D CMM
    • Hệ thống và Máy đo 3D CMM Quang học Bruker Alicona
    • Module mở rộng
  • Dịch vụ
  • Hàng có sẵn
    • Máy đo 2D VMM/VMS
    • Máy sấy khí và phụ tùng
    • Bộ lưu điện và phụ tùng
    • Van giảm áp và phụ tùng
    • Bơm chân không và phụ tùng
    • Vật tư, phụ tùng máy SEM
    • Vật tư, phụ tùng máy TEM
    • Vật tư, phụ tùng máy đo 3D CMM
      • Kim đo và thanh nối Máy đo 3D CMM
      • Probe, Module Máy đo 3D CMM
      • Giá thay kim Máy đo 3D CMM
      • Bộ gá mẫu Máy đo 3D CMM
      • Bộ điều khiển Máy đo 3D CMM
    • Vật tư, phụ tùng máy quang phổ OES
    • Vật tư, phụ tùng máy phủ màng
  • Ứng dụng
    • Khoa học vật liệu
    • Khoa học sự sống
    • Điện tử - Bán dẫn
    • Khoa học trái đất & Khai khoáng
  • TechBlog
    • Kính hiển vi điện tử SEM TEM
    • Kính hiển vi quang học
    • Máy đo 3D CMM
    • Máy quang phổ phát xạ OES
    • Máy quang phổ Raman
    • Máy đo 3D CMM Quang học Bruker Alicona
    • Tech Talks and Speakers
    • Tin tức công nghệ
  • Podcasts
  • Về chúng tôi
    • Công ty TNHH Công nghệ M
    • Tin tức và sự kiện
    • Câu hỏi thường gặp
  • Liên hệ
  1. Về chúng tôi
  2. Câu hỏi thường gặp
  3. Tiếng Việt
Tuyển dụng
Filters

Công ty

Sản phẩm

Máy quang phổ phát xạ

Máy đo 3D CMM

Kính hiển vi điện tử quét SEM & FE-SEM TESCAN

Máy quang phổ Raman Renishaw

Kính hiển vi điện tử truyền qua TEM

Hệ thống và Máy đo đo 3D CMM quang học

Module mở rộng (Product Add-ons)

Kính hiển vi điện tử quét chùm ion hội tụ FIB-SEM TESCAN

TechBlog

Kính hiển vi điện tử quét SEM

Máy đo 3D CMM

Máy phân tích quang phổ - OES

Máy quang phổ Raman

Tech Talks and Speakers

Hệ thống và thiết bị đo 3D quang học

Tin tức công nghệ

Kính hiển vi quang học

Tin tức và sự kiện

Tuyển dụng

Podcast

Sản phẩm

SEM & FE-SEM
Kính hiển vi điện tử quét

SEM Kính hiển vi điện tử quét

FIB-SEM
Focused Ion Beam SEM

FIB SEM chùm tia hội tụ

TEM
Kính hiển vi điện tử truyền qua

TEM - Kính hiển vi điện tử truyền qua

4D-STEM
The first near-UHV 4D-STEM

4D-STEM -The first near-UHV 4D-STEM

Dynamic Micro-CT
Máy chụp cắt lớp Micro-CT động

Dynamic MicroCT

3D Optical CMM
Máy đo 3D CMM quang học

3D Optical CMM, Máy đo 3D CMM quang học

CMM
Máy đo 3D CMM

Máy đo 3D

Spark OES
Máy phân tích quang phổ

Máy phân tích quang phổ Spark OES
  • Kính hiển vi điện tử truyền qua TEM
  • 4D-STEM - Kính hiển vi điện tử truyền quét
  • Kính hiển vi điện tử quét SEM FE-SEM
    • SEM cho khoa học vật liệu
    • SEM cho Khoa học sự sống
    • SEM cho Khoa học Trái đất & Khai khoáng
  • Kính hiển vi điện tử quét chùm ion hội tụ FIB-SEM
    • FIB-SEM cho khoa học vật liệu
    • FIB-SEM cho khoa học sự sống
    • FIB-SEM cho Điện tử - Bán dẫn
  • Module mở rộng
  • Máy quang phổ Raman Renishaw
  • Máy chụp cắt lớp Micro-CT động - Dynamic MicroCT
  • Máy đo 3D CMM
  • Spark & RDE OES - Máy quang phổ phát xạ
  • Trang chủ
  • Đăng nhập
  • Hệ thống và Máy đo 3D CMM quang học Bruker Alicona
  • Chính sách bảo mật
  • Thỏa thuận sử dụng
  • Tuyển dụng
  • Live Meeting
  • Tescan
  • Bruker Alicona
  • Delong America
  • Leader Metrology
  • Metal Power

 

 

Công ty TNHH Công nghệ M

Số 8 Đường N8, Mega Ruby Khang Điền, Phường Long Trường
Thành phố Hồ Chí Minh, Việt Nam. (MST: 0311014975)
Chi nhánh miền Bắc: Tầng 1, Toà CT5, Chung cư Cát Tường TNT,
Đường Lê Thái Tổ, Phường Võ Cường, Tỉnh Bắc Ninh, Việt Nam
Điện thoại: (028).6288.9639 - 0988.248.156 (Mr Thương) Email: levanthuong@mtechnology.vn

 dathongbao  DMCA.com Protection Status
MTECHNOLOGY MTECHNOLOGY
Đăng nhập
  • Sản phẩm
    • TEM - Kính hiển vi điện tử truyền qua
    • 4D-STEM - Kính hiển vi điện tử truyền quét
    • FIB-SEM - Kính hiển vi điện tử quét chùm ion hội tụ
    • SEM, FE-SEM - Kính hiển vi điện tử quét
    • Micro-CT - Máy chụp cắt lớp Micro-CT
    • Máy quang phổ Raman Renishaw
    • Spark & RDE OES - Máy quang phổ phát xạ
    • CMM - Máy đo 3D CMM
    • Hệ thống và Máy đo 3D CMM Quang học Bruker Alicona
    • Module mở rộng
  • Dịch vụ
  • Hàng có sẵn
    • Máy đo 2D VMM/VMS
    • Máy sấy khí và phụ tùng
    • Bộ lưu điện và phụ tùng
    • Van giảm áp và phụ tùng
    • Bơm chân không và phụ tùng
    • Vật tư, phụ tùng máy SEM
    • Vật tư, phụ tùng máy TEM
    • Vật tư, phụ tùng máy đo 3D CMM
      • Kim đo và thanh nối Máy đo 3D CMM
      • Probe, Module Máy đo 3D CMM
      • Giá thay kim Máy đo 3D CMM
      • Bộ gá mẫu Máy đo 3D CMM
      • Bộ điều khiển Máy đo 3D CMM
    • Vật tư, phụ tùng máy quang phổ OES
    • Vật tư, phụ tùng máy phủ màng
  • Ứng dụng
    • Khoa học vật liệu
    • Khoa học sự sống
    • Điện tử - Bán dẫn
    • Khoa học trái đất & Khai khoáng
  • TechBlog
    • Kính hiển vi điện tử SEM TEM
    • Kính hiển vi quang học
    • Máy đo 3D CMM
    • Máy quang phổ phát xạ OES
    • Máy quang phổ Raman
    • Máy đo 3D CMM Quang học Bruker Alicona
    • Tech Talks and Speakers
    • Tin tức công nghệ
  • Podcasts
  • Về chúng tôi
    • Công ty TNHH Công nghệ M
    • Tin tức và sự kiện
    • Câu hỏi thường gặp
  • Liên hệ
  • 0988248156
  • levanthuong@mtechnology.vn