0988248156
levanthuong@mtechnology.vn

Tìm kiếm

Sản phẩm
Dịch vụ
Hàng có sẵn
Ứng dụng
TechBlog
Podcasts
Về chúng tôi
Liên hệ

Về chúng tôi
Câu hỏi thường gặp
Tiếng Việt
Công ty
Đăng ký nhận bản tin & tài liệu

Tuyển dụng

Đăng ký nhận bản tin & tài liệu

Quý danh

Anh

Chị

This is required.

Họ + đệm This is required.

Tên This is required.

Email This is required.

Mobile This is required.

Sản phẩm

SEM & FE-SEM
Kính hiển vi điện tử quét

FIB-SEM
Focused Ion Beam SEM

TEM
Kính hiển vi điện tử truyền qua

4D-STEM
The first near-UHV 4D-STEM

Dynamic Micro-CT
Máy chụp cắt lớp Micro-CT động

3D Optical CMM
Máy đo 3D CMM quang học

CMM
Máy đo 3D CMM

Spark OES
Máy phân tích quang phổ

Kính hiển vi điện tử truyền qua TEM

4D-STEM - Kính hiển vi điện tử truyền quét

Kính hiển vi điện tử quét SEM FE-SEM
Kính hiển vi điện tử quét chùm ion hội tụ FIB-SEM
Module mở rộng

Máy quang phổ Raman Renishaw

Máy chụp cắt lớp Micro-CT động - Dynamic MicroCT

Máy đo 3D CMM

Spark & RDE OES - Máy quang phổ phát xạ

Trang chủ
Đăng nhập
Hệ thống và Máy đo 3D CMM quang học Bruker Alicona
Chính sách bảo mật
Thỏa thuận sử dụng
Tuyển dụng
Live Meeting

Tescan
Bruker Alicona
Delong America
Leader Metrology
Metal Power

Công ty TNHH Công nghệ M

Số 8 Đường N8, Mega Ruby Khang Điền, Phường Long Trường
Thành phố Hồ Chí Minh, Việt Nam. (MST: 0311014975)
Chi nhánh miền Bắc: Tầng 1, Toà CT5, Chung cư Cát Tường TNT,
Đường Lê Thái Tổ, Phường Võ Cường, Tỉnh Bắc Ninh, Việt Nam
Điện thoại: (028).6288.9639 - 0988.248.156 (Mr Thương) Email: levanthuong@mtechnology.vn

Tìm kiếm

Đăng nhập

Sản phẩm
Dịch vụ
Hàng có sẵn
Ứng dụng
TechBlog
Podcasts
Về chúng tôi
Liên hệ

0988248156
levanthuong@mtechnology.vn

Đăng ký nhận bản tin & tài liệu

Sản phẩm

SEM & FE-SEMKính hiển vi điện tử quét

FIB-SEMFocused Ion Beam SEM

TEMKính hiển vi điện tử truyền qua

4D-STEM The first near-UHV 4D-STEM

Dynamic Micro-CTMáy chụp cắt lớp Micro-CT động

3D Optical CMMMáy đo 3D CMM quang học

CMMMáy đo 3D CMM

Spark OESMáy phân tích quang phổ