TESCAN MIRA XR là Kính hiển vi điện tử quét (SEM – Scanning Electron Microscope)
thế hệ mới của TESCAN, được thiết kế để cung cấp hình ảnh siêu phân giải (Ultra-High Resolution – UHR) cùng khả năng phân tích nguyên tố trực tiếp nhờ tích hợp hệ thống EDS tiên tiến. Với sự kết hợp giữa công nghệ quang học điện tử hiện đại và nền tảng phần mềm điều khiển tự động thông minh, TESCAN MIRA XR là giải pháp tối ưu cho các phòng nghiên cứu, trung tâm R&D và nhà máy sản xuất yêu cầu khả năng phân tích hình thái và thành phần nguyên tố chính xác, nhanh chóng.
Tính năng nổi bật của TESCAN MIRA XR
1. Hình ảnh siêu phân giải với công nghệ BrightBeam™
- Cho phép quan sát chi tiết bề mặt và cấu trúc nano với độ sắc nét vượt trội.
- Giảm độ nhiễu và tăng độ tương phản, đặc biệt hữu ích trong phân tích vật liệu và sinh học.
2. Tích hợp phân tích nguyên tố EDS với DualEssence™
- Hệ thống phân tích phổ tán năng lượng tia X (EDS) được tích hợp trực tiếp trong phần mềm điều khiển.
- Cho phép phân tích định tính và định lượng nguyên tố ngay trong quá trình quan sát hình ảnh SEM.
- Tối ưu hóa hiệu suất làm việc khi kết hợp hình ảnh hình thái học và dữ liệu hóa học chỉ trong một bước.
3. Điều hướng mẫu nhanh với In-Flight Beam Tracing™ và Wide Field Optics™
- Dễ dàng điều khiển và xác định khu vực phân tích với tầm nhìn rộng và khả năng định vị chính xác.
- Rút ngắn thời gian thu thập dữ liệu lên đến 30% so với các hệ SEM truyền thống.
4. Quan sát mẫu nhạy cảm với MultiVac™
- Cho phép nghiên cứu mẫu dễ bay hơi hoặc nhạy với chùm điện tử mà không cần phủ mẫu.
- Hệ thống sử dụng hơi nước để nâng cao độ dẫn và tăng tín hiệu hình ảnh, lý tưởng cho vật liệu sinh học, vật liệu mềm hoặc vật liệu nano.
5. Phần mềm Essence™ – Tự động hóa toàn diện
- Giao diện trực quan, dễ sử dụng, phù hợp cả người mới và chuyên gia.
- Tích hợp các tính năng tự động như lấy nét, điều chỉnh stigmator, độ sáng, độ tương phản, ghi ảnh, dựng bản đồ nguyên tố.
- Cho phép người vận hành tập trung vào phân tích thay vì xử lý kỹ thuật.
6. Dễ dàng tích hợp và mở rộng
- Buồng mẫu rộng rãi hỗ trợ đa dạng kích thước mẫu và dễ tích hợp với các module phân tích bổ sung như:
- EBSD (Electron Backscatter Diffraction)
- CL (Cathodoluminescence)
- Raman Spectroscopy
- Cryo SEM hoặc các thiết bị thử nghiệm in-situ.
Ứng dụng thực tế của TESCAN MIRA XR
- Nghiên cứu vật liệu tiên tiến: Phân tích hạt, cấu trúc tinh thể, bề mặt vật liệu nano, vật liệu tổng hợp.
- Phân tích lỗi và kiểm soát chất lượng: Phát hiện vết nứt, bong tróc, tạp chất hoặc sai hỏng trong sản xuất vi điện tử, cơ khí chính xác.
- Công nghệ năng lượng: Nghiên cứu điện cực pin lithium-ion, pin nhiên liệu, vật liệu lưu trữ năng lượng.
- Công nghệ sinh học và y sinh: Phân tích mô, tế bào, vật liệu polymer sinh học không cần phủ mẫu.
- Thí nghiệm in-situ: Theo dõi sự thay đổi vật liệu dưới tác động nhiệt, cơ học, điện trường ngay trong buồng hiển vi.
Tại sao nên chọn TESCAN MIRA XR?
- Kết hợp sức mạnh phần cứng quang học hiện đại với phần mềm điều khiển mạnh mẽ, tự động.
- Tối ưu hóa hiệu quả công việc với quy trình vận hành thông minh.
- Tiết kiệm thời gian, nâng cao độ tin cậy và khả năng phân tích chuyên sâu.
- Là giải pháp toàn diện cho các trung tâm nghiên cứu, doanh nghiệp sản xuất có yêu cầu cao về phân tích hình thái học và hóa học vi mô.
Liên hệ ngay với chúng tôi để được tư vấn và nhận báo giá TESCAN MIRA XR