Tiếng Việt
Tescan MAGNA - Kính hiển vi điện tử quét SEM

Tescan MAGNA - Kính hiển vi điện tử quét SEM

Nền tảng SEM nhúng TriLens™ được tối ưu hóa cho tạo ảnh nano có độ tương phản khắt khe và phân tích STEM-in-SEM.

Tescan MAGNA tận dụng quang học nhúng TriLens™ và các đầu dò chọn lọc năng lượng để cung cấp độ tương phản sắc nét, không bị trộn lẫn ở độ phân giải cao—ngay cả ở khoảng cách làm việc lớn hoặc trên các bề mặt nghiêng. Được thiết kế chuyên biệt cho các mặt cắt ngang, vật liệu nano và phân tích lỗi nâng cao.

 

Liên hệ & Yêu cầu chi tiết