Tiếng Việt
Tescan AMBER 2 - Kính hiển vi điện tử quét chùm ion hội tụ Ga FIB-SEM

Tescan AMBER 2 - Kính hiển vi điện tử quét chùm ion hội tụ Ga FIB-SEM

Nền tảng Ga⁺ FIB-SEM tự động để chuẩn bị mẫu TEM có độ chính xác cao và tạo mẫu nano.

Tescan AMBER tích hợp quang học kính hiển vi điện tử quét (SEM) không trường BrightBeam™ với chùm ion hội tụ (FIB) Ga⁺ Orage™ và quy trình làm việc lamella hoàn toàn tự động. Được thiết kế linh hoạt, nó hỗ trợ việc chuẩn bị mẫu đảo ngược và mẫu phẳng, tạo mẫu nano và đánh bóng cuối cùng nhẹ nhàng trên nhiều loại vật liệu khác nhau.

 Cách AMBER 2 nâng tầm nghiên cứu của bạn

TESCAN AMBER 2 là một hệ thống FIB-SEM Ga⁺ hoàn toàn tự động, chuyên dùng để chuẩn bị mẫu TEM, phân tích đặc tính và tạo mẫu nano một cách thường xuyên.

Với độ chính xác và dễ sử dụng, nó mang lại chất lượng hình ảnh FIB cực kỳ cao ngay cả ở mức điện áp tăng tốc thấp. Cột SEM BrightBeam™ không trường đảm bảo hình ảnh nano có độ tương phản cao và tính linh hoạt vượt trội cho mẫu.

Dù là chuẩn bị mẫu TEM, tạo cấu trúc nano, hay phân tích đặc tính vật liệu nano, AMBER 2 là công cụ hoàn hảo cho nhiều trường hợp sử dụng khác nhau.

 

 Hình ảnh hiển thị mẫu vật TEM được chuẩn bị tự động trong vòng chưa đầy 1 giờ bằng TEM AutoPrep Pro™.

 Lợi ích chính của AMBER 2

Tự động hóa quy trình chuẩn bị mẫu TEM của bạn với TESCAN AMBER 2, một hệ thống Ga⁺ FIB-SEM không trường, mang đến giải pháp dễ dàng, đáng tin cậy cho việc chuẩn bị mẫu TEM tự động và linh hoạt.

  • Khám phá những khả năng TEM mới bằng cách chuẩn bị các mẫu đảo ngược hoặc mẫu phẳng và chuyển chúng sang lưới bằng bộ nanomanipulator để định hướng chính xác các chi tiết.

  • Chế tạo, tạo ra hoặc sửa đổi các thiết bị chức năng với khả năng khắc bằng chùm điện tử (e-beam lithography), tạo mẫu bằng chùm ion (ion beam prototyping), lắng đọng vật liệu bằng chùm điện tử (FEBID) hoặc bằng chùm ion (FIBID) của AMBER 2, giúp tăng cường tính linh hoạt và sáng tạo trong thiết kế.

  • Đơn giản hóa việc vận hành FIB-SEM với phần mềm TESCAN Essence™, tự động căn chỉnh SEM và FIB, đồng thời cung cấp tính năng bảo vệ chống va chạm bàn mẫu tiên tiến cho mọi cấp độ người dùng.

  • Thực hiện chụp ảnh độ phân giải cực cao và phân tích nano trên nhiều loại vật liệu với cột UHR-SEM BrightBeam™ không trường và cột FIB Orage™ dòng cao, đảm bảo hiệu suất và tính linh hoạt vượt trội.

  • Có được cái nhìn sâu sắc hơn về vật liệu với hệ thống phát hiện đa chế độ của AMBER, cho phép thu thập đồng thời nhiều tín hiệu.