Tiếng Việt 
日本語 (Japan) 
한국어 (Korean) 
中文 (Chinese) 
English (UK) 
Nền tảng kính hiển vi điện tử quét phát xạ trường (FEG-SEM) dạng mô-đun dành cho nghiên cứu phân tích và phân tích lỗi với khả năng tích hợp đầu dò có thể mở rộng.
Tescan MIRA cung cấp khả năng chụp ảnh độ phân giải cao, dòng điện tử mạnh mẽ với quang học Schottky FEG và hỗ trợ các công cụ như EDS, EBSD, CL, STEM và tạo mẫu nano. Thiết kế mô-đun cùng các tùy chọn nâng cấp giúp nó phù hợp với nhu cầu phòng thí nghiệm đang phát triển trong nghiên cứu và QA/QC.
