Tescan CLARA - Kính hiển vi điện tử quét SEM

Nền tảng SEM UHR (Độ phân giải siêu cao) không từ trường để tạo ảnh có độ tương phản cao cho các vật liệu tinh vi và không dẫn điện.

Tescan CLARA cung cấp hình ảnh độ phân giải dưới nanô-mét với quang học BrightBeam™ và hệ thống phát hiện có thể tùy chỉnh. Được thiết kế cho các vật liệu nhạy cảm, nó hỗ trợ quy trình làm việc đa phương thức linh hoạt và các thí nghiệm tại chỗ (in-situ) với độ tương phản vượt trội ở keV thấp (điện áp chùm tia thấp).

TESCAN CLARA

SEM UHR (Kính hiển vi điện tử quét độ phân giải siêu cao) giúp phân tích bề mặt nanô-mét nhanh chóng, chính xác và toàn diện cho mọi vật liệu.

Bạn đã sẵn sàng khám phá thế giới của Khoa học Vật liệu và SEM UHR chưa?

Tiết lộ chi tiết tối đa và thông tin tương phản từ bất kỳ mẫu nào ngay cả các vật liệu từ tính và nhạy với chùm tia điện tử. TESCAN CLARA được nâng cấp mới nổi bật với trải nghiệm người dùng tinh gọn, giúp bạn vượt qua các rào cản về năng suất và tăng tốc thời gian thu thập dữ liệu. SEM UHR đa năng này cung cấp khả năng tương phản vô song, mang lại dữ liệu toàn diện và chính xác để đáp ứng phạm vi rộng nhất của các yêu cầu nghiên cứu vật liệu.

Cốt lõi của TESCAN CLARA nằm ở nguyên tắc thiết kế “từ nhà nghiên cứu cho nghiên cứu”. Điều này được thể hiện trong kiến trúc truy cập mở và nền tảng phần cứng có thể cấu hình, cho phép người dùng điều chỉnh CLARA theo nhu cầu thông tin và đạt được hiệu suất đặc trưng đa phương thức ở cấp độ cao nhất.

Hãy khám phá sức mạnh mà TESCAN CLARA đặt vào tay bạn để xem nó sẽ thúc đẩy nghiên cứu của bạn như thế nào.

Đặc Trưng Mọi Vật Liệu Với Độ Tin Cậy

• Tiết lộ chi tiết chưa từng có: Phân tích hình thái, thành phần và cấu trúc nhanh chóng và dễ dàng cho mọi mẫu vật bằng công nghệ UHR BrightBeam™ không từ trường của chúng tôi. Hiệu suất hình ảnh độ phân giải siêu cao phù hợp với các mẫu kim loại, từ tính, không dẫn điện, nhiễm điện (charging) và nhạy với chùm tia điện tử, cung cấp phân tích chính xác ngay cả ở keV thấp và độ nhạy bề mặt cao ở cấp độ nanô-mét.
• KHÁM PHÁ ĐỘ TƯƠNG PHẢN VÀ CÁC TÍNH NĂNG ẨN: Hình ảnh tương phản pha tiên tiến với độ nhạy bề mặt được tăng cường giúp cải thiện khả năng hiển thị để xác định vị trí các tính năng sâu và cho phép hiển thị độ tương phản vật liệu, địa hình (topography) hoặc cả hai trong một hình ảnh duy nhất. Hệ thống phát hiện trong cột của TESCAN CLARA sử dụng thiết kế độc đáo với cả Multidetector để thu thập điện tử theo góc thoát và năng lượng, và Axial detector để thu thập tín hiệu điện tử thứ cấp (SE) hiệu suất cao ở bất kỳ điện áp tiếp đất nào.
• THU THẬP CÂU CHUYỆN HOÀN CHỈNH: Mọi mẫu vật đều có một câu chuyện được kể bằng địa hình bề mặt và thành phần vật liệu. Sự lựa chọn các detector BSE (Điện tử tán xạ ngược) và CL (Phát quang Catốt) của TESCAN có thể được kết hợp để cung cấp hình ảnh địa hình và tương phản pha chi tiết, cùng với độ tương phản vật liệu cao không chỉ từ các mẫu thông thường mà còn từ các mẫu nhạy với chùm tia điện tử hoặc đã được gia nhiệt.

Truy Cập Nguồn Dữ Liệu Phong Phú

• TẬN DỤNG LỢI THẾ CỦA PHÂN TÍCH ĐA PHƯƠNG THỨC TÍCH HỢP: Áp dụng các kỹ thuật đặc trưng khác một cách tương quan trong một hệ thống duy nhất để phân tích đa phương thức phức tạp mà không có nguy cơ làm hỏng các mẫu nhạy cảm của bạn, chẳng hạn như vật liệu pin. Trang bị cho CLARA TESCAN RISE RAMAN để thu thập và phân tích phổ và bản đồ RAMAN tương quan với độ chính xác micron với hình ảnh tương phản SEM của bạn. Hoặc thêm Serial Block Face Imaging (SBFI) để phân tích cấu trúc khối lượng lớn các vật liệu mềm, polymer và các vật liệu tương tự.
• QUAN SÁT CÁC PHÁT TRIỂN ĐỘNG: Quan sát những thay đổi về cấu trúc và thành phần, và sự phát triển hướng hạt trong thời gian thực trong các thí nghiệm động. Giải pháp Sàn Kéo (Tensile Stage) tích hợp của TESCAN hỗ trợ tạo ảnh và phân tích hình thái vật liệu trong quá trình kiểm tra ứng suất biến dạng. Tương quan Hình ảnh Kỹ thuật số Độ phân giải cao (HRDIC) trong quá trình tải mẫu cung cấp một bộ dữ liệu có giá trị để hiểu sâu hơn về cơ học vi mô của vật liệu theo thời gian.
• TẬN DỤNG KIẾN TRÚC TRUY CẬP MỞ CỦA CHÚNG TÔI: Tận hưởng sự tự do để phát triển các thí nghiệm của riêng bạn. Nền tảng của chúng tôi được thiết kế với kiến trúc mở, cho phép người dùng tùy chỉnh các quy trình phân tích. Một công cụ có sẵn là tính năng tự động hóa hình ảnh Essence™, cho phép ghép toàn cảnh tự động hoàn toàn hoặc tạo ảnh tự động tại các điểm quan tâm do người dùng xác định. Để tùy chỉnh quy trình tạo ảnh ở mức độ cao hơn, người dùng có thể sử dụng Python scripting để lập trình các tác vụ thường xuyên với giao diện SharkSEM.

Dễ tiếp cận và thân thiện với người dùng

• THU THẬP DỮ LIỆU CHẤT LƯỢNG CAO DỄ DÀNG: Trao quyền cho tất cả người dùng, dù là người mới, nâng cao hay chuyên gia, để đạt được kết quả tạo ảnh và phân tích tốt nhất với Essence™, bao gồm các quy trình làm việc có hướng dẫn và có thể tùy chỉnh, cùng với tự động hóa tập trung vào tác vụ. Nền tảng phần mềm của chúng tôi đơn giản hóa việc điều khiển kính hiển vi hơn bao giờ hết, giúp vận hành SEM trực quan và hiệu quả hơn.
• BẮT ĐẦU THU THẬP DỮ LIỆU TRONG THỜI GIAN NGẮN: Năng suất được nâng cao ngay khi bạn ngồi sau thiết bị. TESCAN CLARA được trang bị công cụ tự động hóa In-Flight™ tiên tiến, cung cấp tính năng tối ưu hóa và căn chỉnh chùm tia gần như tức thời. Với các tính năng thế hệ mới như tự động căn giữa, lấy nét và điều chỉnh độ sáng tương phản liên tục, hình ảnh độ phân giải cao và dữ liệu phân tích có thể được thu thập nhanh hơn bao giờ hết.
• AN TOÀN CHO MẪU VẬT: Di chuyển mẫu vật một cách tự tin và tránh va chạm với các phần cứng trong buồng. Essence™ tái tạo kích thước và hình học của mẫu vật và các detector bên trong buồng, thêm một lớp bảo mật bổ sung trong quá trình vận hành SEM. Với mô hình này hoạt động liên tục, nguy cơ va chạm phần cứng được giảm đáng kể trong quá trình thao tác mẫu, di chuyển bàn mẫu và lắp đặt detector.