Tiếng Việt

Scanning Electron Microscopes (Kính hiển vi điện tử quét SEM), Phụ kiện kính hiển vi điện tử SEM

Đế gắn mẫu SEM (Specimen Stubs) 12.5mm, vát 45°

Đế gắn mẫu SEM (Specimen Stubs) 12.5mm, vát 45°

Mã SKU: AGG301E

Danh mục: Accessories for Scanning Electron Microscope - SEM (Phụ kiện Kính hiển vi điện tử quét SEM), Scanning Electron Microscope - SEM (Kính hiển vi điện tử quét SEM)
Nhà sản xuất: Agar Scientific

Đặc điểm nổi bật:Thiết kế tối ưu: Đường kính 12.5mm với cạnh vát 45° giúp hỗ trợ quan sát mẫu ở góc nghiêng mà không cần điều chỉnh bàn mẫu quá sâu.Chất liệu: Nhôm cao cấp, độ dẫn điện tốt, giảm thiểu tích điện.Bề mặt: Gia công tinh xảo, phẳng tuyệt đối, tương thích tốt với băng keo Carbon hoặc sơn bạc dẫn điện.Tương thích: Sử dụng hoàn hảo cho các dòng máy SEM của Tescan, Cambridge, LEO, ZEISS, FEI, Philips, CamScan. Thông số kỹ thuật:Loại: Pin Stub (Có chân cắm).Kích thước: Đầu 12.5mm x Chân 3.2mm.Góc vát: 45°.

Báo giá

hotline