Đế gắn mẫu bằng nhôm, chất liệu hợp kim nhôm, dùng để gá và cố định mẫu trong kính hiển vi điện tử quét (SEM), đường kính Ø55 × dày 3,2 mm, mã hàng STUB55X3.2

SEM Specimen Stub là phụ kiện tiêu chuẩn trong chuẩn bị mẫu cho SEM, được sử dụng để gắn và giữ mẫu trong buồng chân không, đồng thời tạo đường dẫn điện từ mẫu đến hệ thống. Stub thường được chế tạo từ nhôm chất lượng cao, có độ dẫn điện tốt và trọng lượng nhẹ, giúp tối ưu hiệu suất làm việc của hệ SEM.

🔸 Đặc điểm nổi bật

Vật liệu nhôm dẫn điện tốt: Hạn chế hiện tượng tích điện trên mẫu

Gia công chính xác: Bề mặt phẳng, đảm bảo độ ổn định khi quan sát

Tương thích chuẩn phổ biến: Phù hợp với nhiều hệ SEM

Tái sử dụng nhiều lần: Dễ vệ sinh và thay thế vật tư đi kèm (carbon tape, carbon disc)

🔸 Ứng dụng:

Gắn mẫu rắn, bột, màng mỏng lên stub

Sử dụng cùng băng keo cacbon hoặc keo dẫn điện

Phục vụ quan sát hình thái và phân tích thành phần (EDS)

Tương thích với các hệ SEM, FEG-SEM, FIB-SEM của TESCAN và các dòng tương đương

🔸 Thông số kỹ thuật:

Đường kính mặt: 55 mm

Kích thước chân (pin): 3.2 mm (đường kính)

Vật liệu: nhôm (Al) Dạng: trụ tròn, bề mặt phẳng