Webinar

Tăng tốc phát triển Pin thế hệ tiếp theo với hệ thống Plasma FIB-SEM và TOF-SIMS

Tăng tốc phát triển Pin thế hệ tiếp theo với hệ thống Plasma FIB-SEM và TOF-SIMS

Topic: From Lab to Market: Accelerating Next Generation Battery Development with Plasma FIB-SEM and TOF-SIMS Workflows

Chủ đề: Từ phòng thí nghiệm đến thị trường: Tăng tốc để phát triển Pin thế hệ tiếp theo với hệ thống Plasma FIB-SEM và TOF-SIMS

Kỹ thuật EDS phân tích phân bố nguyên tố (Element Mapping EDS)

Kỹ thuật EDS phân tích phân bố nguyên tố (Element Mapping trong SEM & EDS) để tối ưu quy trình và vật liệu sản xuất Pin

Tổ chức bởi: Bruker - Đức (hợp tác cùng Dragonfly Energy - Mỹ)
Thời gian: Thứ 5, ngày 02/11/2023,
Từ 23:00 giờ tối (Giờ Hà Nội)
Ngôn ngữ: Tiếng Anh
Hình thức: Hội thảo Online
(Nếu quý khách không thể tham dự Live Webinar, quý khách cũng có thể đăng ký, chúng tôi sẽ setup lại Recorded Video)
Trạng thái: Đã diễn ra, đăng ký để nhận Recorded Video
Mã số Webinar: TESCAN152

EDS Mapping độ phân giải siêu cao, nghiên cứu Vật liệu bán dẫn với FEG-SEM

EDS Mapping độ phân giải siêu cao, nghiên cứu Vật liệu bán dẫn với FEG-SEM

Thời gian: Thứ 5, ngày 29/6/2023,
Từ 3:00 giờ chiều (Giờ Hà Nội)
Ngôn ngữ: Tiếng Anh
Hình thức: Hội thảo Online
Trạng thái: Đã diễn ra, đăng ký để nhận Recorded Video
Mã số Webinar: TESCAN135

Nâng cao nghiên cứu đặc tính của Vật liệu bằng Phương pháp phân tích 4D-STEM đa phương thức

Thời gian: Thứ 4, ngày 26/04/2023,
Từ 10:00 PM - 11:00 PM (Giờ Hà Nội)
Ngôn ngữ: Tiếng Anh
Hình thức: Hội thảo Online
Trạng thái: Đã diễn ra, đăng ký để nhận Recorded Video
Mã số Webinar: TESCAN126

Thuộc chuỗi sự kiện:
WAS Virtual Conference - Spring 2023