MTECHNOLOGY MTECHNOLOGY
Đăng nhập
MTECHNOLOGY MTECHNOLOGY
  • Sản phẩm
    • TEM - Kính hiển vi điện tử truyền qua
    • FIB-SEM - Kính hiển vi điện tử quét chùm ion hội tụ
    • SEM, FE-SEM - Kính hiển vi điện tử quét
    • Dynamic Micro-CT - Máy chụp cắt lớp Micro-CT động
    • CMM - Máy đo 3D CMM
    • Spark OES - Máy phân tích quang phổ
  • Dịch vụ
  • Ứng dụng
    • Khoa học vật liệu
    • Khoa học sự sống
    • Điện tử - Bán dẫn
    • Khoa học trái đất & Khai khoáng
  • TechBlog
    • Kính hiển vi điện tử quét
    • Máy đo 3D CMM
    • Máy phân tích quang phổ
  • Webinar
  • Về chúng tôi
    • Tin tức và sự kiện
    • Câu hỏi thường gặp
    • Tuyển dụng
  • Liên hệ
  • EN
Show
Quên mật khẩu? Quên tên đăng nhập?
  • Kính hiển vi điện tử truyền qua TEM
  • Kính hiển vi điện tử quét SEM FE-SEM
    • SEM cho khoa học vật liệu
      • TESCAN VEGA Compact
      • TESCAN VEGA
      • TESCAN MIRA
      • TESCAN CLARA
      • TESCAN MAGNA
    • SEM cho khoa học sự sống
      • TESCAN CLARA cryo
      • TESCAN MAGNA
    • SEM cho Khoa học Trái đất & Khai khoáng
      • TESCAN TIMA (Khoa học Trái Đất)
      • TESCAN TIMA (Khai khoáng)
  • Kính hiển vi điện tử quét chùm ion hội tụ FIB-SEM
    • FIB-SEM cho khoa học vật liệu
      • TESCAN AMBER X
      • TESCAN AMBER
      • TESCAN SOLARIS
    • FIB-SEM cho khoa học sự sống
      • TESCAN AMBER cryo
      • TESCAN SOLARIS
    • FIB-SEM cho Điện tử - Bán dẫn
      • TESCAN AMBER X
      • TESCAN SOLARIS
      • TESCAN SOLARIS X
  • Máy chụp cắt lớp Micro-CT động - Dynamic MicroCT
    • Micro-CT cho khoa học vật liệu
      • TESCAN UniTOM HR
      • TESCAN UniTOM XL
      • TESCAN DynaTOM
    • Micro-CT cho Khoa học Trái Đất
      • TESCAN CoreTOM
      • TESCAN DynaTOM
  • Máy đo 3D CMM
    • Navigator
    • Cruiser
    • Excellent
    • Miracle
    • Tornado
    • Tornado-P
  • Máy phân tích quang phổ - Spark OES
    • Metavision 10008X
    • Metavision 1008i3
    • Metavision 1008i
    • Metavision 108N series
    • Metavision 108M
    • MOSS - siêu tiết kiệm

Công ty TNHH Công nghệ M

Phòng 1.10, Lầu 1, Toà nhà Phố Đông, Số 1, Đường D31, P. Phước Long B, Tp. Thủ Đức, Tp.HCM
Chi nhánh Hà Nội: Số 6C, 59/1 Khúc Thừa Dụ, P. Dịch Vọng, Q. Cầu Giấy, Tp. Hà Nội
MST: 0311.014975
Điện thoại: (028).6288.9639 - 0988.248.156 (Mr Thương)
Email: levanthuong@mtechnology.vn

  • Trang chủ
  • Chính sách bảo mật
  • Thỏa thuận sử dụng
  • Đăng nhập
  • Tescan
  • Delong America
  • API Metrology
  • Leader Metrology
  • Metal Power

 

dathongbao

 

MTECHNOLOGY MTECHNOLOGY
Đăng nhập
  • Sản phẩm
    • TEM - Kính hiển vi điện tử truyền qua
    • FIB-SEM - Kính hiển vi điện tử quét chùm ion hội tụ
    • SEM, FE-SEM - Kính hiển vi điện tử quét
    • Dynamic Micro-CT - Máy chụp cắt lớp Micro-CT động
    • CMM - Máy đo 3D CMM
    • Spark OES - Máy phân tích quang phổ
  • Dịch vụ
  • Ứng dụng
    • Khoa học vật liệu
    • Khoa học sự sống
    • Điện tử - Bán dẫn
    • Khoa học trái đất & Khai khoáng
  • TechBlog
    • Kính hiển vi điện tử quét
    • Máy đo 3D CMM
    • Máy phân tích quang phổ
  • Webinar
  • Về chúng tôi
    • Tin tức và sự kiện
    • Câu hỏi thường gặp
    • Tuyển dụng
  • Liên hệ
  • EN