Trong lĩnh vực đóng gói bán dẫn tiên tiến (advanced semiconductor packaging), thách thức lớn nhất thường không nằm ở việc phát hiện khuyết tật mà ở khả năng tiếp cận hiệu quả các vùng quan tâm (Region of Interest – ROI) nằm sâu bên trong mà không tạo ra các sai lệch hoặc hư hỏng do quá trình chuẩn bị mẫu gây ra. Khi các cấu trúc đóng gói ngày càng trở nên không đồng nhất và tích hợp theo chiều dọc, quy trình phân tích hỏng hóc cần phải cân bằng giữa độ chính xác trong định vị, tốc độ chuẩn bị mẫu và khả năng bảo toàn tính toàn vẹn của thiết bị qua nhiều hệ thống phân tích khác nhau.

Tiếng Việt
日本語 (Japan)
한국어 (Korean)
中文 (Chinese)
English (UK)
