Kính hiển vi điện tử quét TESCAN CLARA độ phân giải siêu cao UHR SEM, phân tích đặc tính vật liệu ở cấp độ nanomet

Đặc điểm nổi bật

• Hỗ trợ nghiên cứu đặc điểm tất cả các loại vật liệu cấu trúc nano
• Lý tưởng để nghiên cứu đặc điểm bề mặt với chùm điện tử năng lượng thấp
• Thu nhận hình ảnh tuyệt vời hơn cho các mẫu nhạy cảm với chùm điện tử và mẫu không dẫn điện
• SEM hoàn toàn tự động thiết lập chùm tia, đảm bảo tối ưu hình ảnh bằng công nghệ In-Flight Beam Tracing™

• Ảnh Live điều hướng SEM được quan sát với độ phóng đại thấp xuống tới 2x mà không cần thêm phần cứng phức tạp nhờ vào thiết kế Wide Field Optics™
• Buồng mẫu thiết kế đa cổng kết nối đa đầu nhận tín hiệu, đầu dò BSE cho phép lựa chọn góc bay lên và năng lượng của điện tử
• Phần mềm được thiết kế dễ sử dụng với đa cấp độ người dùng.