Vietnamese 
English (UK) TESCAN AMBER 2 - Công nghệ Ga+ FIB-SEM tiên tiến để chuẩn bị mẫu TEM tự động và tạo mẫu nano
TESCAN AMBER 2 là Ga FIB-SEM hoàn toàn tự động để chuẩn bị mẫu TEM thông thường, đặc tính hóa ở cấp độ nano và tạo mẫu.
Mang lại độ chính xác và dễ sử dụng, nó cung cấp chất lượng hình ảnh FIB cực kỳ cao ngay cả ở điện áp tăng tốc thấp. Cột BrightBeam™ SEM không trường đảm bảo hình ảnh nano có độ tương phản cao và tính linh hoạt đặc biệt của mẫu.
Cho dù chuẩn bị mẫu TEM, tạo cấu trúc nano hay đặc tính hóa vật liệu nano, AMBER 2 là công cụ hoàn hảo cho nhiều trường hợp sử dụng khác nhau.
Tính năng nổi bật
- Cung cấp giải pháp chuẩn bị mẫu TEM tự động và di chuyển chúng vào lưới bằng Bộ cánh tay thao tác nano TESCAN Nanomanipulator để định hướng chính xác.
- Tạo hoặc sửa đổi các thiết bị chức năng bằng các khả năng của AMBER 2 về quang khắc chùm tia điện tử, tạo mẫu chùm tia ion, FEBID hoặc FIBID, tăng cường tính linh hoạt và khả năng sáng tạo trong thiết kế.
- Đơn giản hóa hoạt động FIB-SEM với phần mềm TESCAN Essence™, tự động căn chỉnh SEM và FIB và cung cấp tính năng cảnh báo va chạm sàn mẫu tiên tiến.
- Thực hiện hình ảnh có độ phân giải cực cao và phân tích nano trên nhiều loại vật liệu khác nhau bằng cột UHR-SEM field-free BrightBeam™ và cột FIB Orage™ dòng cao, đảm bảo hiệu suất và tính linh hoạt tuyệt vời.
- TESCAN AMBER giúp người dùng hiểu biết sâu sắc hơn về vật liệu với hệ thống đầu dò đa phương thức, cho phép thu thập đồng thời nhiều tín hiệu.
Hình ảnh ứng dụng tiêu biểu
